A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
9,194 Views
•
16:11 min
•
April 26, 2014
DOI:
Summary
Automatically generated
ويستخدم تقنية تداخل المرجعية، والتي صممت لإزالة الضوضاء غير المرغوب فيها غضب ليزر لnanodetection، لبحث عاملا microcavity جودة فائقة. وتقدم الإرشادات للتجميع، والإعداد، والحصول على البيانات، إلى جانب عملية القياس لتحديد عامل الجودة تجويف.
Read Article
Cite this Article
Vincent, S., Yu, W., Lu, T. Implementation of a Reference Interferometer for Nanodetection. J. Vis. Exp. (86), e51133, doi:10.3791/51133 (2014).
Copy