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2-D 바둑판 위상 격자를 사용하여 여러 길을 따라 X 선 빔 일관성의 측정
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Measurement of X-ray Beam Coherence along Multiple Directions Using 2-D Checkerboard Phase Grating
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2-D 바둑판 위상 격자를 사용하여 여러 길을 따라 X 선 빔 일관성의 측정

DOI:
10.3791/53025-v

•

10:39 min

•

October 11, 2016

•

, , , ,
1X-ray Science Division, Advanced Photon Source,Argonne National Laboratory, 2Division of Science,Diamond Light Source Ltd.

Bölümler

  • 00:05Başlık
  • 00:41Preparation of the 2-D Checkerboard Phase Grating
  • 04:43Experiment Setup and Alignment at the Synchrotron Facility
  • 06:17Performing Coherence Measurements
  • 08:19Results: Representative Data Measured Using 18 keV X-rays at 1-BM-B Experiment Hutch of Advanced Photon Source
  • 09:59Conclusion

Özet

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측정 프로토콜 및 데이터 분석 과정은 동시에 격자 한 2-D 바둑판 위상을 사용하여 네 개의 방향을 따라 방사광 X 선원의 횡 일관성을 얻기 위해 주어진다. 이 간단한 기술은 X 선 소스와 X 선 광학 완전한 횡 간섭 특성화에 대해 적용될 수있다.

Etiketler

X-ray Beam Coherence2-D Checkerboard Phase GratingSynchrotron BeamlineGrading InterferometryTransverse Coherence2D GradientsElectroplating MoldSilicon WaferSilicon NitrideChromiumGoldPMMA ResistElectron Beam LithographyIsopropyl AlcoholDeveloper

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