Dergi
/
/
Soğuk Giriş Sistemi ve Electron Impact Kütle Spektrometresi kullanarak Uçucu ve Oksidasyon Hassas Bileşiklerin Analizi
JoVE Journal
Kimya
Bu içeriği görüntülemek için JoVE aboneliği gereklidir.  Oturum açın veya ücretsiz deneme sürümünü başlatın.
JoVE Journal Kimya
Analysis of Volatile and Oxidation Sensitive Compounds Using a Cold Inlet System and Electron Impact Mass Spectrometry

Soğuk Giriş Sistemi ve Electron Impact Kütle Spektrometresi kullanarak Uçucu ve Oksidasyon Hassas Bileşiklerin Analizi

DOI:

05:48 min

September 05, 2014

Bölümler

  • 00:05Başlık
  • 01:32Sample Preparation
  • 02:19Measurement of Mass Spectra
  • 03:48After the Measurement
  • 04:43Results: Electron Impact Ionisation Mass Spectra of Volatile and Oxidation Sensitive Compounds
  • 05:25Conclusion

Özet

Otomatik Çeviri

Bu video elektron darbesi iyonizasyonu kullanılarak uçucu ve oksidasyona hassas bileşiklerin kütle spectrometrical analizi için bir protokol verilmektedir. Sunulan teknik özellikle, metalik organillerinden, silanlar ya da bu tür bir Schlenk tekniği gibi atıl koşullar kullanılarak ele alınması gerekir phosphanes ile çalışan, özellikle, inorganik kimyager için ilgi çekmektedir.

İlgili Videolar

Read Article