Hier presenteren we de protocollen van differentiaal-detectie analyses van time-resolved infrarood Vibrationele spectroscopie en elektron diffractie waarmee opmerkingen van de vervormingen van de lokale structuren rond photoexcited moleculen in een in kolomvorm vloeibare kristallen, het geven van een atomaire perspectief op de relatie tussen de structuur en de dynamiek van dit photoactive materiaal.
In dit artikel bespreken we de experimentele metingen van de moleculen in vloeibare kristallen (LC) fase met behulp van de Vibrationele spectroscopie time-resolved infrarood (IR) en time-resolved elektronendiffractie. Vloeibare kristallen fase is een belangrijke staat van materie die er tussen de vaste en vloeibare fasen bestaat en het is gebruikelijk in natuurlijke systemen zo goed zoals in organische elektronica. Vloeibare kristallen zijn orientationally besteld maar losjes verpakt, en dus de interne conformaties en de uitlijning van de moleculaire componenten van LCs kunnen worden gewijzigd door externe prikkels. Hoewel geavanceerde time-resolved diffractie technieken is gebleken dat picosecond-schaal moleculaire dynamica van enkele kristallen en polycrystals, directe waarnemingen van verpakking structuren en ultrasnelle dynamica van zachte materialen hebben belemmerd door wazig diffractie patronen. Wij rapporteren hier, time-resolved IR Vibrationele spectroscopie en elektron diffractometry te verwerven ultrasnelle momentopnamen van een in kolomvorm LC-materiaal, rekening houdend met een deel van de photoactive kern. Differentiaal-detectie analyses van de combinatie van time-resolved IR Vibrationele spectroscopie en elektronendiffractie zijn krachtige hulpmiddelen voor het karakteriseren van de structuren en licht dynamiek van zachte materialen.
Vloeibare kristallen (LCs) hebben een verscheidenheid van functies en worden veel gebruikt in wetenschappelijke en technologische toepassingen1,2,3,4,5,6. Het gedrag van LCs kan worden toegeschreven aan hun oriënterende bestellen alsmede over de hoge mobiliteit van hun moleculen. Een moleculaire structuur van LC materialen wordt doorgaans gekenmerkt door een mesogen-kern en lange flexibele koolstof kettingen die de hoge mobiliteit van de LC-moleculen garanderen. Onder externe prikkels7,8,9,10,11,12,13,14,15 , zoals licht, elektrische velden, temperatuurveranderingen of mechanische druk, kleine intra- en intermoleculaire moties van de LC moleculen veroorzaken drastische structurele opnieuw ordenen in het systeem, wat leidt tot de functionele werking. Om te begrijpen van de functies van LC materialen, is het belangrijk om te bepalen van de structuur van de moleculaire schaal in de LC-fase en identificeren van de belangrijkste bewegingen van de moleculaire conformaties en vervormingen van de verpakking.
Röntgendiffractie (XRD) wordt vaak gebruikt als een krachtig hulpmiddel voor het bepalen van de structuren van LC materialen16,17,18. Het patroon van de diffractie van oorsprong uit een functionele prikkels-responsieve kern is echter vaak verborgen door een brede halo-patroon van de lange koolstof-ketens. Een effectieve oplossing voor dit probleem wordt verzorgd door time-resolved diffractie analyse, waarmee directe waarnemingen van moleculaire dynamica met behulp van photoexcitation. Deze techniek haalt structurele informatie over de photoresponsive aromatische groep met behulp van de verschillen tussen de patronen van de diffractie verkregen vóór en na photoexcitation. Deze verschillen bieden de middelen om de achtergrondgeluiden zowel rechtstreeks het observeren van de structurele veranderingen van belang. Analyses van de differentiële diffractie patronen onthullen de gemoduleerde signalen van de photoactive groep alleen, waardoor de schadelijke diffractie uitsluiten voor de niet-photoresponsive koolstof-ketens. Een beschrijving van deze differentiële diffractie analysemethode wordt gegeven in Hada, M. et al.19.
Time-resolved diffractie metingen kunnen structurele informatie bieden over de atomaire herschikkingen die zich tijdens de faseovergang in materialen20,21,22,23, voordoen 24 , 25 , 26 , 27 , 28 , 29 en chemische reacties tussen moleculen30,31,32,33,34. Met deze toepassingen in het achterhoofd, is opmerkelijke vooruitgang geboekt in de ontwikkeling van ultrabright en ultrakorte-gepulseerde X-ray35,36 en elektron37,38,39 , 40 bronnen. Echter tijd-resolved diffractie is alleen toegepast voor eenvoudige, geïsoleerde moleculen of aan één – of poly-crystals, in die zeer besteld anorganische rooster of organische moleculen produceren goed opgelost diffractie patronen verstrekken van structurele informatie. In tegenstelling, hebben ultrasnelle structurele analyses van meer complexe zachte materialen belemmerd vanwege hun minder geordende fasen. In deze studie tonen wij het gebruik van time-resolved elektronendiffractie evenals voorbijgaande Absorptie spectroscopie en de Vibrationele spectroscopie time-resolved infrarood (IR) te karakteriseren de structurele dynamica van photoactive LC-materialen met behulp van deze diffractie-geëxtraheerde methodologie19.
De cruciale stap van het proces tijdens de time-resolved elektron diffractie metingen is het handhaven van de hoogspanning (75 keV) zonder de huidige schommelingen sinds de afstand tussen de fotokathode en anode plaat is slechts ~ 10 mm. Als de huidige boven het bereik van 0.1 µA vóór of tijdens de experimenten fluctueert, verhoogt de spanning van de versnelling tot 90 te ontladen en weer ingesteld op 75 keV keV. Dit proces van conditionering moet gebeuren totdat de huidige in de range van 0.1 µA schommelt. Het juist…
The authors have nothing to disclose.
Wij danken Dr. S. Tanaka aan Tokyo Institute of Technology voor time-resolved IR Vibrationele spectroscopie metingen en Prof. M. Hara en Dr. K. Matsuo aan de Nagoya University voor XRD metingen. Wij mede door Prof. S. Yamaguchi aan de Nagoya University, Prof. R. Herges aan de Universiteit van Kiel en Prof. R. J. D. Miller op het Max Planck Instituut voor de structuur en de dynamiek van de zaak voor de waardevolle discussie.
Dit werk wordt ook ondersteund door de Japanse Science technologie (BJS), PRESTO, voor de financiering van de projecten “moleculaire technologie en oprichting van nieuwe functies” (Grant aantal JPMJPR13KD, JPMJPR12K5 en JPMJPR16P6) en “Chemische omzetting van licht energie”. Dit werk is ook slechts gedeeltelijk ondersteund door JSPS Grant nummers JP15H02103, JP17K17893, JP15H05482, JP17H05258, JP26107004 en JP17H06375.
Chirped pulse amplifier | Spectra Physics Inc. | Spitfire ACE | For time-resolved IR vibration spectroscopy |
Chirped pulse amplifier | Spectra Physics Inc. | Spitfire XP | For time-resolved electron diffractometry |
Femtosecond laser | Spectra Physics Inc. | Tsunami | For time-resolved IR vibration spectroscopy |
Femtosecond laser | Spectra Physics Inc. | Tsunami | For time-resolved electron diffractometry |
Optical parametric amplifier | Light Conversion Ltd. | TOPAS prime | |
64-channel mercury cadmium tellurium IR detector array | Infrared Systems Development Corporation | FPAS-6416-D | |
FT-IR spectrometer | Shimadzu Corporation | IR Prestige-21 | |
High voltage supply | Matsusada precision | HER-100N0.1 | |
Rotary pump | Edwards | RV12 | |
Molecular turbo pumps | Agilent Technologies Japan, Ltd. | Twis Torr 304FS | |
Vacuum gauges | Pfeiffer vacuum systems gmbh | PKR251 | For ICF70 flange |
Vacuum monitors | Pfeiffer vacuum systems gmbh | TPG261 | |
Fiber coupled CCD camera | Andor Technology Ltd. | iKon-L HF | |
BaF2 and CaF2 substrates | Pier optics | Thickness 3 mm | |
AgGaS2 crystal | Phototechnica Corporation | Custom-order | |
BBO crystals | Tokyo Instruments, Inc. | SHG θ=29.2 deg THG θ=44.3 deg |
|
calcite crystals | Tokyo Instruments, Inc. | Thickness 1mm | |
Optical mirrors | Thorlabs | PF10-03-F01 PF10-03-M01 UM10-45A |
Al coat mirrors Au coat mirrors Ultrafast mirrors |
Optical mirrors | HIKARI,Inc. | Broadband mirrors | |
Dichroic mirrors | HIKARI,Inc. | Custom-order Reflection: 266 nm Transmission: 400, 800 nm |
|
Optical chopper | Newport Corporation | 3501 optical chopper | |
Optical shutters | Thorlabs Inc. | SH05/M SC10 |
|
Optical shutters | SURUGA SEIKI CO.,LTD. | F116-1 | |
Beam splitters | Thorlabs Inc. | BSS11R | |
Fused-silica lenses | Thorlabs Inc. | LA4663 LA4184 |
|
BaF2 lens | Thorlabs Inc. | LA0606-E | |
Polarized mirrors | Sigmakoki Co.,Ltd | Custom-order Designed for 800 nm Reflection: s-polarized light Transmission : p-polarized light |
|
Half waveplate | Thorlabs Inc. | WPH05M-808 | |
Mirror mounts | Thorlabs Inc. | POLARIS-K1 KM100 |
Kinematic mirror mounts |
Mirror mounts | Sigmakoki Co.,Ltd | MHAN-30M MHAN-30S |
Gimbal mirror mounts |
Mirror mounts | Newport Corporation | ACG-3K-NL | Gimbal mirror mounts |
Variable ND filters | Thorlabs Inc. | NDC-25C-2M | |
Beam splitter mounts | Thorlabs Inc. | KM100S | |
Lens mounts | Thorlabs Inc. | LMR1/M | |
Rotational mounts | Thorlabs Inc. | RSP1/M | |
Retroreflector | Edmund Optics | 63.5MM X 30" EN-AL | |
spectrometers | ocean photonics | USB-4000 | |
Power meter | Ophir | 30A-SH | Used for intensity monitor of CPA |
Power meter | Thorlabs Inc. | S120VC PM100USB |
Used for intensity measurements of pump pulse |
Photodiodes | Thorlabs Inc. | DET36A/M DET25K/M |
|
DC power supply | TEXIO | PW18-1.8AQ | Used for magnetic lens |
Magnetic lens | Nissei ETC Co.,Ltd | Custom-order | |
Stages | Newport Corporation | M-MVN80V6 LTAHLPPV6 |
Used for magnetic lens |
Stage controller | Newport Corporation | SMC100 | |
Stages | Sigmakoki Co.,Ltd | SGSP20-35(X) SGSP20-85(X) |
Used for sample position |
Stages | Sigmakoki Co.,Ltd | SGSP26-200(X) OSMS26-300(X) |
Used for delay time generator |
Stage controller | Sigmakoki Co.,Ltd | SHOT-304GS | |
Picoammeter | Laboratory built | ||
spin coater | MIKASA Co.,Ltd | 1H-D7 | |
hot plate | IKA® | C-MAG HP7 | |
SiN wafer | Silson Ltd | Custom-order | |
KOH aqueous solution (50%) | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 168-20455 | |
Chloroform | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 038-18495 | |
Dichloromethane | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 132-02456 | |
Personal computers for the controlling programs | Epson Corporate | Endeavor MR7300E-L | 32-bit operation system |
Program for the control the equipment | National Instruments Corporation | Labview2016 | |
Program for the data analysis | The MathWorks, Inc. | Matlab2015b |