このプロトコルは、走査型電子顕微鏡 (SEM) を用いたナノスケールの分解能でイメージングのための組織の特定のセルを対象します。多数の生物学的素材の樹脂包埋切片に SEM で階層的にし、ターゲットを識別するために光学顕微鏡でされる最初
光と電子顕微鏡の組み合わせを使用して階層的なイメージングによる混合細胞またはティッシュ内の微細構造の解像度で特定のセルをターゲットを実現できます。樹脂に埋め込まれたサンプルは超薄切片の何百ものリボンで構成される配列に分割、シリコンウエハや伝導コーティング coverslips の部分に堆積しました。配列は、fluorophores が付いている分類後広い場蛍光顕微鏡 (蛍光光学顕微鏡 (FLM)) または光学顕微鏡 (LM) 急速な大面積の概要については、スマート フォンのカメラのようなデジタル家電を使用して低解像度で作成されます。重金属で染色後、走査型電子顕微鏡 (SEM) の配列が作成されます。ターゲットの選定は、FLM によって生成された 3 D 再構成や蛍光マーカーが利用できない場合、中間解像度で SEM 画像のスタックから作られた 3 D 再構成から可能です。微細構造の解析に選択したターゲットは最終的にで高分解能 SEM に記録されます (数ナノメートル画像ピクセル)。どんなウルトラミクロトームに後付けすることができますリボン処理ツールが示されています。これのアレイ生産および断面のナイフ ボートから基質除去に役立ちます。SEM で配列の自動イメージングを可能にするソフトウェアプラット フォームを説明しています。シリアル ブロック面 SEM (SBF SEM) または集束イオンビーム (FIB SEM)、SEM などの EM の大きなボリューム データを生成する他の方法と比べてこのアプローチには 2 つの主要な利点: (1) スライスしたアップ バージョンではいえ、樹脂包埋試料は保存されています。それはさまざまな方法で染色し、解像度の異なるイメージを作成できます。(2) セクションが後に汚すことができると、重金属と強くブロック染色サンプルを使用して SEM 画像のコントラストを紹介または導電性組織ブロックをレンダリングする必要はありません。これにより、メソッドがさまざまな材料と生物学的質問に適用されます。特にプレフィックス付きの材料など、銀行生検と病理研究所から直接埋め込みでき 3 D で再構築します。
大量の超微細構造の解像度で組織を再構築するため SEM に基づくさまざまなイメージング手法の数は、使用される1をされている: 包括的なレビューは利用できる例えばSBF SEM2、FIB SEM3、および配列のために、。(AT)4断層撮影。後者の方法のサンプル素材は、基板上のシリアル セクションの配列として保存されて、しながら SBF SEM FIB SEM は、破壊的な方法は、サンプル ブロックに取り組んでいるイメージング中にかかります。SEM で樹脂の充電のため強くメタライズド サンプル ブロック5にも依存します。
その一方で、特定の細胞または組織サンプル内の対象の構造体を識別すると、相関光と電子顕微鏡 (クレム)6,7,8から特に利益することができます。これは蛍光信号9を消すだろうから重金属の大量のアプリケーションを排除する対象 FLM を使用します。このような少しメタライズド サンプルのみ AT が選択の方法です配列は、LM のイメージング後重金属染色後簡単に場合がありますので。また、AT のほぼすべてのサンプルの型を使用する、日常も採取病理学者の宝箱10。
AT のもう一つの大きな利点は、階層11または多重解像度画像12の可能性: 高解像度で、すべてのイメージを必要はありません (例えばFLM) 異なるモダリティや、目標を選択可能性がありますように、低解像度の SEM 画像。高解像度組織またはセル人口の興味深い領域のみを画像デジタル データ ストレージ領域を節約し、は扱いやすい、小型のイメージ データ セットが生成されます。ここでは、AT ワークフローはむしろ弱くメタライズド サンプルを使用して示されて: 親水性の樹脂に埋め込まれた高圧冷凍植物の根 (シロイヌナズナ)。
配列を準備、ステンド グラス、FLM の SEM、イメージ画像のスタックは、登録方法などを説明しています。また、FLM ボリュームの 3 D 復元を使用して、ナノスケールの分解能 SEM イメージングのための特定のセルを選択する方法を示しています。
マルチ モーダル階層が組織内の特定のセルを対象にワークフローを示した: 連続切片、特注基板ホルダーを用いた導電性基板上に配置されたアレイに樹脂包埋標本をスライスします。ラベリング、fluorophore および FLM で画像処理、再生ボリュームが標的細胞を選択するため使用されます。後にコントラストを紹介する重金属ラウンド追加染色, 自動化されたソフトウェア プラットフォームを使用して SEM でナノスケールの分解能でいくつかの百のセクションこれらのターゲットが作成されます。
いくつかの長いリボンで密集配列を生産するには、ここで説明したような基板ホルダーが必要です。熟練した、患者の人は、いくつかのリボンを付けるナイフ ボート半浸漬シリコン基板と基板上に座っている、リボンまで徐々 に水のレベルを下げることによって配列を取得することがあります。しかし、私たちの経験、基板ナイフ ボート (cf. 注プロトコルに 1.3.2 で) の任意の部分に触れているときに形成を粉砕する傾向があります。さらに、この手順は難しく ito 基板: (1) 伊藤ガラスの透明性のためリボンの両端が添付される; が、水のエッジを参照してくださいすることは困難です。(2) と ito の表面は非常に洗練されたシリコンウエハよりはるかにざらざら、リボン リフト アウトいくつかのセクションから成る小さな断片が浮かぶかもしれないしセクションの順序をこのように破壊の間に壊れる傾向にあります。
ワークフロー全体 FLM データに相関することがなく可能です。この場合、いくつかのセッションで実行する、SEM でのデータ収集があります。初期の 3 D 再構成または少なくとも低または中程度の解像度のデータの評価のターゲットを識別する必要があります。また、明視野 LM の従来の組織学的汚れ、(要求しない FLM) を適用する可能性があります。もちろん、その他オプション6,7,8 18での初期の論文ですでに実証として、アレイにラベルまたは遺伝子蛍光タンパク質 (XFPs) をエンコードまたはラベルを埋め込み済み抗体試料中の蛍光の温存。
議論法の一般的な制限は、特定の厚さのセクション、3 D ボリュームの結果として得られる離散サンプリングの使用: SEM セクション表面 (d からのみデータを収集するために、Z の解像度をセクションの厚さと同じくらい良いのみすることができます選択したプライマリ エネルギー/着陸エネルギー epending)。つまり、結果として得られる 3D ボリュームが例えば異方性ボクセル。、100 nm3場合 100 x 5 x 5 nm のセクションと 5 の画像ピクセル サイズ nm を使用。1 μ m 以下のサイズの範囲で非常に小さなエンティティは、これは真の微細構造の説明のために十分はない可能性があります。技術的な制限は、自動化イメージング、SEM で使用段階の精度です。このため、完全なターゲット領域がイメージ化されることを保証するためステージ精度の仕様よりも大きな ROI を選択する必要は。
相関 AT に比べて SBF SEM と FIB SEM ブロック顔画像処理方法として、上記の異方性ボクセルの決定的な欠点があります。FIB-SEM、適切なドリフト補正されている場合、5 nm3 x 5 x 5 の等方性ボクセルを取得できます。
配列の準備中のセクションの損失による再建された量のギャップは、SBF SEM や FIB SEM. が検出されない懸念もあります。接着剤によって、良いリボン安定化と、通常リボンの最後のセクションの唯一の問題はある: まつげを使用してナイフエッジから離すときは破損している可能性があります。しかし、我々 の経験ですべての 20-50 のセクションで 1 つのセクションの損失は画像の位置合わせに影響しません。
その一方で、後の配列を染色する可能性使うと良好な信号と SEM 用もここに示すルート ヒントを冷凍高圧など弱くメタライズド サンプルのコントラスト。したがって、多数の化学固定法と配線の手順によって最適な微細構造保全を妥協する必要はありません。また、金属の中間程度で病理学研究室からルーチンのサンプルは、優れたデータ10を提供します。このようなポスト埋め込みコントラスト強調は一般的に SBF SEM と FIB SEM のため不可能です。さらに、これらのメソッドは破壊的なので、すなわちイメージング、異なる解像度でサイト画像階層または時間の後で、繰り返されるイメージング中にサンプルを消費することはできません。原則として、大きな FOVs (例えば、コネクトミクス全体のマウスの頭脳の複数のミリメートルまで) から成る、無制限のボリューム作成モザイクをステッチで、AT 中 100 μ x 100 μ m を超えて FOVs FIB SEM によるセクションの膨大な数を得ることができます。ルーチンの楽器と達成するために困難です。
説明でワークフローのさらなる自動化 SBF SEM と FIB SEM の上記の方法を実行両方区分および完全に自動化された方法で同じ楽器内イメージングので決定的な利点であります。断面のオートメーションの 1 つの種類が存在する:、ATUMtome12を生成し、セクションの何千もの収集が、カプトン テープの使用基板はこのような配列、FLM の画像に困難。ここで使用される ito の coverslips にも超解像イメージングが可能なはず。自動化のためのさらに、非常に望ましいターゲットを FLM データ スタックの記録となります。その一方で、オートメーションが高くなり、基板ホルダーを除くここに示すワークフローに依存している (ハードウェア) の面でのみ計測ルーチン EM 研究所または中核施設、ロウで通常利用可能なアクセスのレベルします。
The authors have nothing to disclose.
この仕事は、教育・研究、プロジェクト MorphiQuant 3 D ドイツ連邦環境省から補助金 FKZ 13GW0044 によって支えられました。テクニカル サポートありがとうカロリン バーテルス。
Instrumentation | |||
Ultramicrotome | RMC | PT-PC | Alternative: Leica UC7 |
Substrate holder | RMC | ASH-100 | Alternative: home built |
Plasma cleaner | Diener | Zepto 40kHz | Alternatives: Ted Pella Pelco or other benchtop plasma cleaner Example Parameters for Diener Zepto with 40kHz generator (0-100W); 0.5 mbar, 5 sccm (Air), 10% performance |
Widefield fluorescence light microscope | Zeiss | Axio Observer.Z1 | Alternatives: Leica, Nikon, Olympus |
Fluorescence filter set | Zeiss | 43 HE (Cy3/DsRed) | |
Objective lens | Zeiss | Zeiss Neofluar 40x | 0.75 NA |
Decent workstation able to handle GB-sized image data | |||
FESEM | Zeiss | Ultra 55 | Alternatives: FEI, Jeol, Hitachi, TESCAN |
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Sectioning | |||
Razor blades | Plano | T585-V | |
Diamond knife for trimming 45° | Diatome | DTB45 | |
Diamond knife for trimming 90° | Diatome | DTB90 | |
Jumbo diamond knife for sectioning | Diatome | DUJ3530 | |
Silicon wafer (pieces) | Si-Mat | Custom Made | Doping: P/Bor, orientation: <100>, thickness: 525 ± 25 µm, resistivity: 1-30 Ω-cm http://si-mat.com/silicon-wafers.html |
ITO-coated coverslips | Balzers | Type Z | 22 × 22 × 0.17 mm https://www.opticsbalzers.com/de/produkte/deckglas-fenster/corrslide.html |
Aluminium carrier | Custom Made | 76 × 26 mm | |
Wafer forceps | Ideal-tek | 34A.SA | |
Stubs forceps | Dumont | 0103-2E1/2-PO-1 | Dumoxel-H 2E 1/2 |
Diamond scriber | Plano | T5448 | |
Eyelash/very soft cat's hair | Selfmade | Alternative: Plano | |
Brush | Selfmade | ||
Pattex contact adhesive | Pattex | PCL3C | Kraftkleber Classic (the yellowish one) |
Fixogum | Marabu | 290110001 | for fixing substrate to carrier |
Adhesive tape | 3M | 851 | for fixing substrate to carrier |
Isopropanol | Bernd Kraft | 07029.4000 | |
Xylene | Carl Roth | 4436 | thinner for glue mixture |
Rotihistol | Carl Roth | 6640 | alternative, limonene based thinner |
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Software | |||
Image processing | Open source | Fiji (http://fiji.sc/#download) | |
Image acquisition | Zeiss | Atlas 5 AT (module for Zeiss SEM) |
Alternative for automated image acquisition: WaferMapper: https://software.rc.fas.harvard.edu/lichtman/LGN/WaferMapper.html |
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Staining | |||
Propidiumiodide | Sigma-Aldrich | P4170 | Stock solution: 1.5 mM in 0.1 % sodium azide |
Uranylacetate | Science Services | E22400 | |
Lead(II) Nitrate | Merck | 107398 | |
Tri Sodium Citrate Dihydrate | Merck | 106448 | |
NaOH pellets | Merck | 106469 | |
1M NaOH solution | Bernd Kraft | 01030.3000 | |
Glass petri dish | Duran | 23 755 56 | |
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Mounting | |||
Stubs | Plano | G301F | |
Carbon pads | Plano | G3347 | |
Copper tape | Plano | G3397 | double-sided adhesive, conductive |
Silver paint | Plano | G3692 | Acheson Elektrodag 1415M |
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Solutions/mixtures | |||
Adhesive mixture for coating blocks | Pattex contact adhesive /xylene as thinner, ratio 1:3. (Alternative for xylene: Rotihistol) |
||
Reynolds lead citrate | 50 mL: Dissolve 1.33 g of lead(II) nitrate in 10 mL of dH2O. Dissolve 1.76 g of tri-sodium citrate dihydrate in 10 ml dH2O. Mix both and add 1 M sodium hydroxide until the solution is clear. Fill up with dH2O to 50 mL. |
||
Propidium iodide staining solution | Prepare 1:1500 dilution from stock in dH2O. Vortex for adequate mixing. |
||
Aqueous uranyl acetate | Dissolve 3 % uranyl acetate in dH2O (mix thoroughly). |