Summary

Evanescente Campo photoacoustics Baseado: Avaliação da Propriedade óptica a Surfaces

Published: July 26, 2016
doi:

Summary

Aqui apresentamos um protocolo para estimar materiais e superfície propriedades ópticas que utilizam o efeito fotoacústico combinado com reflexão interna total. Esta técnica evanescentes photoacoustics baseados em campo pode ser usado para criar um sistema de metrologia fotoacústica para estimar índices de espessuras, a granel e de refração película fina 'materiais, e explorar suas propriedades ópticas.

Abstract

Here, we present a protocol to estimate material and surface optical properties using the photoacoustic effect combined with total internal reflection. Optical property evaluation of thin films and the surfaces of bulk materials is an important step in understanding new optical material systems and their applications. The method presented can estimate thickness, refractive index, and use absorptive properties of materials for detection. This metrology system uses evanescent field-based photoacoustics (EFPA), a field of research based upon the interaction of an evanescent field with the photoacoustic effect. This interaction and its resulting family of techniques allow the technique to probe optical properties within a few hundred nanometers of the sample surface. This optical near field allows for the highly accurate estimation of material properties on the same scale as the field itself such as refractive index and film thickness. With the use of EFPA and its sub techniques such as total internal reflection photoacoustic spectroscopy (TIRPAS) and optical tunneling photoacoustic spectroscopy (OTPAS), it is possible to evaluate a material at the nanoscale in a consolidated instrument without the need for many instruments and experiments that may be cost prohibitive.

Introduction

Avanços na compreensão dos materiais ópticos 1,3,4,6,7,10,13-16 forneceram novos insights sobre a criação de materiais de filme fino para uma série de dispositivos ópticos, incluindo revestimentos anti-reflexo sobre as lentes, alta taxa de extinção óptica filtros e guias de onda de placas altamente absorventes 17. Estes avanços não seria possível sem o uso de muitas técnicas de caracterização, como elipsometria 4,6,18, medida do ângulo de contato, microscopia de força atômica 7,11,19, e microscopia eletrônica de varredura / transmissão, que auxiliam na melhoria iterativa estas tecnologias, fornecendo medidas directas ou estimativas indiretas de propriedades fundamentais materiais ópticos. Disse propriedades, tais como o índice de refração, governar como os materiais interagem com fótons incidentes, o que afeta diretamente a sua função e seu uso em aplicações ópticas. No entanto, cada uma destas técnicas tem as limitações relativas à résolução, a preparação da amostra, o custo e a complexidade, e cada um gera apenas um subconjunto dos dados necessários para caracterizar completamente o material. Dito isto, uma nova série de técnicas conhecidas, como fotoacústica à base de campo evanescente (EFPA) 5,6,15,18,20-49 como mostrado na Figura 1, tem o potencial para estimar as propriedades do material em nanoescala numa consolidada um conjunto de experiências. EFPA abrange os sub-técnicas do total espectroscopia fotoacústica reflexão interna (TIRPAS) 23,25,26,33-35,43-45, espectroscopia fotoacústica / reflexão interna total espectroscopia fotoacústica refractometry (PAS / TIRPAS refractometry) 18, e fotoacústica tunneling óptica espectroscopia (OTPAS) 6, e foi utilizado para estimar a granel e o índice de refracção de película fina, espessura do filme, bem como para detectar material com absorção a um prisma / amostra ou interface substrato / amostra.

A fim de compreender o mecanismo EFPA, umadeve primeiro compreender o conceito de espectroscopia fotoacústica (PAS), que se refere à geração de ondas de pressão de ultra-sons com a rápida expansão termoelástica de um cromóforo, após a absorção de um impulso de ultra-curta (<ms) de luz (Figura 1). Enquadramento teórico e matemático para o efeito fotoacústico discutido neste artigo pode ser obtido aqui 50-59. A alteração da pressão resultante pode ser detectado por um microfone de ultra-sons ou transdutor. O efeito fotoacústica, originalmente descoberto em 1880 com a invenção do photophone de Alexander Graham Bell, foi "redescoberto" no início de 1970, devido aos avanços na tecnologia laser e microfone, e, eventualmente, colocar em uso prático para preencher nichos de aplicações de imagiologia biomédica para película fina análise de ensaios não-destrutivos de materiais. 1,53-57,59-82 Este efeito pode ser matematicamente descrito com equações de onda unidimensional, no qual the uma fonte de onda acústica é simples cuja pressão (p) varia em ambas as posições (x) e o tempo (t):

equação1

com soluções para fontes acústicas simples do formulário 64

Equation2

onde P é a pressão, Γ = aV S 2 / C P onde α é o coeficiente de expansão térmica de volume, v s é a velocidade do som no meio, e C P é a capacidade de calor a uma pressão constante, H 0 é a exposição radiante do feixe de laser, c é a velocidade do som no meio animado, X é o comprimento, e t é o tempo. A magnitude da onda acústica resultante assenta directamente sobre o coeficiente de absorção óptica do material, um u, which é o inverso da profundidade de penetração óptico, δ, que por sua vez é uma medida da distância a que a luz viaja até que ele decai para um / e da sua intensidade óptica inicial. Enquanto a Equação (1) é uma equação geral de uma fonte de onda um plano dimensional, absorvedores típicos irá emitir uma onda acústica esférica em três dimensões. Além da descrição matemática, aplicações das fotoacústica efeito 54 estendem por muitos métodos de imagem como a microscopia, tomografia, e até mesmo imagiologia molecular devido ao efeito fotoacústica com alta sensibilidade, devido ao grande absorção óptica, devido à presente naturalmente hemoglobina cromóforo. Outras aplicações do efeito fotoacústico mesmo incluem a estimativa de várias propriedades dos filmes finos 15,16,20,21,24,26-32,36-39,41,42,56,83,84. No entanto, o PAS tem certas limitações: (1) a sua grande profundidade de penetração óptico elimina a capacidade de sonda de campo próximo propriedades ópticas em superfícies (2)s eficiência de captura a energia acústica emitida é baixo devido à propagação esférica de a maioria da energia de distância a partir do detector (3) as amostras devem incluir cromóforos no regime de comprimento de onda em apreço.

Quando combinado com técnicas baseadas em campo evanescente, no entanto, muitas dessas limitações podem ser melhorados. O campo evanescente ocorre quando um feixe de luz sofre uma reflexão interna total (TIR), conforme descrito por Lei de Snell, a qual também permite efeito guias de ondas de fibra óptica para guia de luz de grandes distâncias (km) para aplicações de computação e de telecomunicações. Em aplicações práticas, o campo evanescente é utilizado em uma variedade de tecnologias de caracterização e de imagem, incluindo a espectroscopia de reflectância total atenuada (ATR). Imagens é conseguido com alto contraste devido ao confinamento da luz para dentro das primeiras poucas centenas de nanómetros na amostra de interesse. O campo evanescente toma a forma de um exponentiallY campo em decomposição, que se estende para o meio externo a uma profundidade de penetração óptico que é tipicamente da ordem do comprimento de onda a ser utilizado (normalmente ~ 500 nm ou menos), como mostrado nas equações 3 e 4.

Equation3

onde I é a intensidade da luz em% para uma z localização a partir da interface do prisma / amostra, que 0 representa a intensidade de luz inicial em% na interface, z é a distância em nanómetros, e δ p é a profundidade de penetração óptica, conforme mostrado na equação 4. com tal uma pequena profundidade de penetração óptico, o campo evanescente é capaz de interagir com o ambiente muito perto da interface das duas matérias, e bem abaixo dos limites de difracção ópticos e acústicos. As propriedades ópticas dos materiais ou partículas dentro desta gama podem perturbar o campo ou de outro modo alterar a sua geração, que a interacção pode ser detectada por uma variedade de métodos de 3,5,6,10,15,17,18,21,23,25-27,29-47,84-95.

Quando as técnicas de evanescentes são combinados com PAS, as formas de onda fotoacústica produzidas podem ser utilizadas para caracterizar materiais ou partículas que interagem com o campo evanescente, criando o evanescente-campo fotoacústica base (EFPA) família de técnicas, tal como mostrado na Figura 1. Esta família inclui, mas não está limitado a, espectroscopia de reflexão total interna fotoacústica (TIRPAS), encapsulamento óptico espectroscopia fotoacústica (OTPAS), e a superfície de ressonância plasmónica de espectroscopia fotoacústica (SPRPAS). O leitor interessado deve consultar as seguintes referências para derivações das equações utilizadas para TIRPAS 5,6,18,23,25,26,33-35,43-47, PAS / TIRPAS refractometry 18, e OTPAS 6. Em cada caso, o efeito fotoacústico é gerado por meio de um mecanismo de excitação diferente do que a simples transmissão através de um prisma; por exemplo, em TIRPAS, a luz é evanescentlyacoplado através de uma interface de prisma / substrato / amostra para os cromóforos (que pode incluir o material da amostra em si, ou moléculas hóspedes no interior da amostra), enquanto que na SPRPAS, o modo primário de excitação é em vez através da absorção de um plasmónica de superfície, que é uma onda eM secundário criado quando a energia do campo evanescente é transferido para dentro da nuvem de electrões de uma camada de metal depositada sobre a superfície do prisma. Esta família de técnicas foi originalmente inventado no início de 1980 por Hinoue et al., E melhorada por T. Inagaki et al., Com a invenção de SPRPAS, mas viu muito pouco o desenvolvimento devido a limitações técnicas das fontes de luz e equipamento de detecção disponíveis . Mais recentemente, as investigações anteriores mostraram que o aumento da sensibilidade e utilidade são possíveis com fluoreto de polivinilideno moderna (PVDF) detectores de ultra-sons e granada de ítrio e alumínio dopado com neodímio comutação-Q (Nd: YAG) lasers. Especificamente, nanossegundo-pulsado de Nd: YAGlasers resultar em um aumento de 10 vezes em 6 a potência de pico, que permite técnicas EFPA a tornar-se ferramentas úteis para avaliar as propriedades ópticas de uma variedade de materiais e interfaces 5,6,15,18,21-29,31-47,84 , 96. Além disso, o trabalho anterior mostrou ainda mais a capacidade de tais técnicas para determinar informações estruturais sobre os materiais em uma interface, o que era anteriormente não alcançáveis ​​com as tecnologias de espectroscopia fotoacústica tradicional (PAS), devido à sua relativamente grande profundidade de penetração 53,55,57,59, 61,62,69,73,75,80,81.

Esta capacidade é mostrado nos protocolos que se seguem sob a técnica OTPAS; no entanto, a um nível mais fundamental as três técnicas de cada dependem de uma equação diferente definitivo, o qual determina a capacidade da tecnologia. Por exemplo, em TIRPAS, a profundidade de penetração óptica do campo evanescente, δ 'P, conduz primeiramente a acústica resultantea intensidade do sinal para uma amostra absorvente, e é descrita por:

Equation4

onde λ 1 é o comprimento de onda da luz que se desloca através do meio de prisma e é definido pela relação λ 1 = λ / n em que n 1 1 é o índice de refracção do material do prisma. Além disso, θ refere-se ao ângulo de excitação, e N 21 refere-se à razão entre os índices de refracção de cada meio, e é definido por n = 21 n 2 / n 1, em que n é 2, o índice de refracção do material de amostra. Quanto maior for a profundidade de penetração óptico, o mais material está a ser irradiada. Para o efeito fotoacústico, quanto maior for a profundidade de penetração óptico, o mais material está a ser excitado que pode produzir ondas acústicas que conduzem a um sinal acústico maior.

<pclass = "jove_content"> Ao contrário TIRPAS no entanto, em PAS / TIRPAS REFRACTOMETRIA a equação primária é a lei de Snell:

Equation5

em que n 1 é o índice de refracção do prisma, θ 1 é o ângulo de incidência na interface prisma / amostra, n 2 representa o índice de refracção da amostra, e θ 2 é o ângulo da luz que é refractada através da segunda médio. A sensibilidade de estimar o índice de refracção de um material é essencialmente ditada por a precisão da estimativa de θ 1. Em reflexão interna total, o que é conseguido quando θ 1 está para além do ângulo crítico, que gera um campo evanescente, sin θ 2 = 1 e, portanto, reduz a Equação 5 N 2 = N 1 sinθ 1. (Nota: θ 1crítica) Conhecer o ângulo no qual a derivada numérica (dP / dθ onde P é o pico a pico de tensão do sinal fotoacústico e θ é o ângulo de incidência da luz com a amostra) do sinal fotoacústico tem um mínimo local permite para a estimativa de θ uma que permite que o utilizador a resolver para n 2 e, assim, estimar o índice de refracção grandes quantidades de uma amostra, tal como mostrado na Figura 1.

Finalmente, em OTPAS, a seguinte equação relaciona transmissão óptica em% a pico fotoacústica para pico de tensão por:

Equation6

em que T é a transmissão óptica por cento, p é a tensão de pico-a-pico gerada pela espectro angular de um substrato com um filme em que, p é 0 a tensão de pico-a-pico gerada pela angular espectro ósubstrato de FA, β é a constante de acoplamento com base no índice de refracção do prisma e do óleo de imersão, α é o factor de atenuação, e é um factor que inclui espessura e o índice de refracção da película da amostra dentro do campo evanescente. A sensibilidade desta técnica à espessura e do índice de refracção é impulsionado pela exactidão da estimativa da intensidade de pico a pico do sinal acústico, p e p 0 em cada ângulo de incidência no espectro angular. Tem sido demonstrado que β pode ser calculada directamente com base nos índices de refracção do prisma e do óleo de imersão; consequentemente, é uma tarefa simples para calcular a transmissão óptica a cada ângulo de incidência e, em seguida, para extrair uma estimativa para o índice de refracção e a espessura da película através de análise estatística de ajuste de curva. O leitor interessado deve consultar a Goldschmidt et al., Para mais informações. 5,6

Tele EFPA sistema é um sistema baseado fotoacústica capaz de estimar a espessura, do índice de refracção de película fina, índice de refracção grandes quantidades, e a geração de sinais acústicos através de absorção óptica de detecção. O sistema é constituído por um laser, um trem óptico para orientar a luz para o prisma / amostra e para o lado da energia de laser de medição. O lado de medição de energia laser é usado para normalizar o sinal fotoacústico para a energia laser incidente, como mostrado na Figura 2. O sistema EFPA é conduzido por um condutor do motor de passo para girar o prisma / amostra para o espectro angular em PAS refractometria / TIRPAS e OTPAS . O sistema adquire dados através de uma placa de aquisição digital e fornece uma interface de usuário e controle do estágio automatizado através de um programa em casa.

Protocol

1. Configuração do Sistema Use cianoacrilato epóxi para aderir um diâmetro de 9 mm, um milímetro cilindro de borracha látex vermelho espesso para a face frontal de um 10 MHz transdutor ultra-sónico e usar cianoacrilato epóxi para aderir um diâmetro de 9 mm, cilindro de borracha látex vermelho 1 mm de espessura a uma espessura de 6 mm bloco de acrílico que é depois epoxied da mesma maneira para o transdutor de ultra-sons de referência para actuar como um espaçador acústico. Configurar um trem óptico que tem um expansor de feixe de ser atingido pelo laser em primeiro lugar. Em seguida, coloque uma segunda abertura ajustável manualmente. Finalmente utilizar um cubo separador de feixes de polarização como o terceiro elemento e posicionar o transdutor de ultra-sons não no suporte de prisma e o EFPA o transdutor no suporte de prisma a EFPA em cada uma das saídas do divisor de feixe não polarizador. Nota: O cubo separador de feixes de polarização é utilizada para assegurar, uma única polarização pura para excitação como este é crítico para a funcionalidade adequada de todas as técnicas EFPA. Expanda o outgoção do feixe de laser, usando lentes para criar um expansor de feixe de, pelo menos, de 3 para a comutação de ND Q: YAG. Nota: O feixe é intencionalmente grandes dimensões em comparação com a borracha de látex absorvente no transdutor de exemplo, a fim de assegurar a função de sensor adequado apesar de luz laser andar fora devido à refracção através do prisma em diferentes ângulos de incidência. Alinhar o trem óptico e o suporte de prisma EFPA de tal forma que o lado plano do suporte mais próximo do prisma será definido como um ângulo de 0 ° usando um nível digital. Isso garante um ponto de partida correto para os dados de espectro angular que serão recolhidos durante os experimentos. Conectar e ligar dispositivos externos, tais como o osciloscópio, motorista motor de passo para o computador, os transdutores de ultra-som, e os motores de palco XY. Fisicamente ligar o transdutor não no prisma EFPA montar Ch0 e fisicamente conectar o transdutor no prisma EFPA montar Ch1 via 50 cabos de ohm BNC. O software é pré-programado para reconhecer umCoustic sinais provenientes destes canais específicos. 2. EFPA Inicialização do sistema e Alinhamento óptico ajustar manualmente a abertura ajustável para bloquear o feixe para um diâmetro de 1 mm. Inicie o software de programação (por exemplo, o LabVIEW), definir o ângulo de 70 °, premindo o botão verde "move" para mover a montagem para o ângulo necessário para o 70 ° de excitação na interface do prisma / sample. Usando óculos de segurança a laser apropriados (OD 7+ a 532 nm), olhar para o prisma do lado perpendicular ao feixe de laser e movimentar manualmente a fase do eixos X e Y usando as rodas de mão até o ponto de laser 1 milímetro é fluorescente visível no látex de borracha. Certifique-se de que o feixe está centrada no látex. Expandir a abertura ajustável manualmente para a sua abertura máxima e olhar para o painel frontal em execução do programa para garantir tanto o sinal fotoacústica medição de energia de laser do EFPA prisma montagem (vermelho lINE) e o sinal a partir do fotoacústica (linha branca lado de medição de energia do laser) são visíveis e que têm aproximadamente a mesma amplitude. Parar o programa pressionando o botão "STOP". Nota: Se o botão não for pressionado o prisma terá que ser redefinida manualmente antes de continuar o teste. Uma vez que o protocolo de inicialização tenha sido concluída, TIRPAS, refractometria PAS / TIRPAS, ou OTPAS pode ser realizada. 3. TIRPAS Técnica Coloque o prisma no prisma de plástico adaptador de montagem como mostrado na Figura 3. Em seguida, coloque 2,5 ul de índice de óleo de imersão compatível com o tipo de prisma usado, para o centro do prisma e sanduíche do óleo pela colocação de um substrato sobre o topo da camada de óleo. Colocar 25 ul de amostra sobre a borracha de látex ligado ao transdutor na EFPA transdutor de montagem como mostrado na Figura 3 de modo a que reveste toda a superfície sem a formação de bolhas. A amostra podeser qualquer material opticamente absorvente, tal como uma solução de corante, num fluido biológico, ou um analito suspenso numa solução. Não é necessária nenhuma preparação da amostra. Comprimir montar o prisma e apertar a montagem em conjunto com parafusos de fixação com um torque conjunto de 16,75 g / mm para cada parafuso. Selecione a aba "Configuração" e selecione "Setup" no menu drop-down. Execute o programa OTPAS direito analyzer_USB-5133.vi película fina (Documento Suplementar). Ver o sinal acústico gerado pela amostra, como mostrado na Figura 4. Nota: O ângulo de incidência pode ser alterada para controlar a profundidade de penetração óptica do campo evanescente para observar secções ópticas mais finas ou mais espessas da amostra. 4. PAS / TIRPAS Refractometria Coloque o prisma no prisma de plástico adaptador de montagem como mostrado na Figura 3. Em seguida, coloque 2,5 ul de índice de óleo de imersão específicas para o tipo de prisma usado, para the centro do prisma e a sanduíche de óleo pela colocação de um substrato sobre o topo da camada de óleo. Colocar 25 ul de amostra para a peça de borracha ligado ao transdutor na EFPA transdutor de montagem como mostrado na Figura 3. Comprimir montagem do prisma e apertar a montagem em conjunto com os parafusos de montagem para um conjunto de torque de 16,75 g / mm para cada parafuso. Selecione a guia "Spectrum angular" e selecione "espectro angular" no menu drop-down. Em seguida, introduzir os parâmetros apropriados para o programa, como mostrado na Tabela 1. Execute o programa e esperar até que o espectro angular foi concluída e o programa terminou. clique com o botão direito no gráfico espectro angular e selecione "Exportar dados → Exportar para Excel" para salvar os dados e abra o arquivo .csv. Abra esses dados em um programa gráfico (por exemplo, KaleidaGraph), e realizar uma derivada numérica sobre ele clicando em "Macros" e selecionando & #34; Derivado ". Input as colunas apropriadas para remover o derivado ligado e pressione" Ok "e a derivada numérica será computado. O gráfico da derivada numérica vs. ângulo e selecione "ajuste de curva". Selecione a opção "Smooth" 5,18,98 e selecione a caixa de seleção dos dados sob "curva seleções fit" para caber para suavizar o ruído a partir dos dados. Selecione a seta para baixo em "View" e selecione "Copiar ajuste de curva para a janela de dados" para extrair os dados de ajuste da curva para outra coluna. procurar manualmente por meio do ajuste da curva de encontrar o mínimo local e a sua correspondente ângulo de incidência que indica uma transição a partir da PAS a regimes TIRPAS. Que corresponde ao mínimo o ângulo crítico medido, como mostrado na Figura 5. Usando a equação de amostra N = N prisma pecado θ C, calcular o índice de refracção grandes quantidades da amostra desconhecida com a ondacomprimento usado para interrogatório laser. Os resultados típicos são mostrados na Tabela 1. 5. OTPAS Colocar 2,5 mL de óleo de imersão (índice combinado com o tipo de vidro utilizado) no centro do prisma. Coloque a película ou o substrato a ser testado película voltado para cima (afastado do prisma) e assegurar que não há bolhas são formadas durante a colocação. Nota: Se bolhas se formam, remova filme amostra ou substrato e Reattempt aplicação. Colocar 25 ul de óleo de imersão no látex de borracha de modo a que os revestimentos de imersão em óleo de toda a superfície sem a formação de bolhas. Comprimir as camadas de substrato / película, tal como mostrado na Figura 3. Apertar os parafusos de montagem para um conjunto de torque de 16,75 g / mm, que deve ser idêntico para cada parafuso. Nota: Chave de torque no protocolo está em oz.-in., portanto, 16,75 g / mm ~ 15 oz.-in. Selecione a guia "Spectrum angular" e selecione "espectro angular" no menu suspenso homensvocê. Em seguida, introduzir os parâmetros apropriados para o programa, como mostrado na Tabela 3. Execute o programa e esperar até que o espectro angular foi concluída e o programa terminou. A executar o teste, efectuando os passos 5,1-5,6 utilizando o substrato ou película (o que não foi feito anteriormente), como mostrado na Figura 6. Selecione "Ajuste de Curva" na caixa drop-down e selecione a guia "ajuste de curva". A seguir, introduza os parâmetros apropriados, conforme mostrado na Tabela 5. Seleccione a varredura da película em "Amostra". Selecione a verificação substrato sob "substrato". Introduza o índice de refração, polarização, e outras opções para os scans executado anteriormente em passos 5.1-5.6 como mostra a Tabela 4. Execute o programa, selecionando "Ajuste de Curva" na caixa suspensa e selecionar a guia "Ajuste de Curva". Observe o índice de refração ea espessura sob4;. RI Film "e" Espessura do filme "mostrado no canto superior direito da interface gráfica do usuário do programa de dados típico é mostrado na Figura 7. Use a opção "Batch fit" para caber muitos exames ao mesmo tempo, introduzindo o número de varreduras de ajuste lote e selecionar um arquivo .csv para a saída dos dados de e repita o passo 5.10. Nota: Uma vez que o programa é executado ele vai caber cada conjunto de dados e saída de todo o índice de refração, espessura, e os valores residuais ao .csv. Para que isso funcione, os exames devem estar em uma lista numérica como scan_001.csv, 002.csv varredura, etc.

Representative Results

Os resultados foram mostrados para TIRPAS, refractometria PAS / TIRPAS, e que são os OTPAS subtechniques dentro da plataforma EFPA. A Figura 4 mostra uma onda acústica TIRPAS representativos gerado a partir de uma amostra absorvente. A natureza bipolar da onda acústica é característico da técnica TIRPAS e indica que está a ocorrer TIRPAS. Esta forma de onda bipolar ocorre devido à reflexão acústica na interface entre a amostra e o substrato de vidro, devido a uma grande diferença na impedância acústica. Para PAS / TIRPAS refractometria Figura 5 e Tabela 1, foi obtido. A Figura 5 mostra o espectro angular e derivado numéricos obtidos para uma amostra submetidos a testes para estimar o índice de refracção grandes quantidades. A Tabela 1 mostra os resultados do uso do método refractométrico PAS / TIRPAS para estimar o índice de refração maior parte de um / mistura de corantes de água / PEG direto vermelho como compavermelho para a estimativa do índice de refração massa usando um refratômetro de mão padrão. Finalmente, os resultados OTPAS são mostrados na Figura 7 e Tabela 2. A Figura 7 mostra duas figuras dos exames angulares que são tomadas durante OTPAS. A Tabela 2 mostra uma comparação entre OTPAS e elipsometria espectroscópica das mesmas amostras de película fina. Figura 1. Subtechnologies de EFPA. EFPA é atualmente composto por três sub-tecnologias distintas. Estas tecnologias são TIRPAS, refractometry PAS / TIRPAS e OTPAS. Cada técnica pode avaliar materiais para derivar ou determinam propriedades diferentes. TIRPAS detecta materiais com base em sua absorção óptica para fins biosensoriamento, PAS / TIRPAS refractometry avalia índice de refração a granel, e OTPAS avalia película fina índice de refração de umespessura d. Em TIRPAS, a luz para além do ângulo crítico θ c cria um campo evanescente que pode gerar uma onda acústica sobre interagindo com um absorvedor óptico. No PAS / TIRPAS refractometry, ambos TIRPAS e formas de onda PAS são obtidos de ambas campo evanescente de excitação fotoacústica e excitação fotoacústica tradicional. Representando graficamente estes dois regimes sobre um gráfico do espectro angular, o ângulo de transição pode ser observado, o qual pode então ser utilizada para derivar o índice de refracção. Finalmente, em OTPAS, um espectro de sinais acústicos são obtidas com radiação laser para além do ângulo crítico θ C tanto para um filme fino sobre um substrato e um substrato nu. Através da aplicação de um algoritmo de ajuste de curva não-linear aos dados, a espessura da película fina e índice de refração podem ser derivados. Por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. <p class="jove_content" fo: Manter-together.within-page = "1"> . Figura 2. EFPA esquemática / foto Esquerda: Para configurar EFPA o feixe de laser deve ser expandido para sobrecarregue área de detecção coberto pela borracha de látex. O raio deve ser inicialmente com um ângulo de 45 graus para o prisma como mostrado. Direita:. Foto da instalação mostrando o trem óptico Por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. Figura 3. O carregamento da amostra. As amostras são carregadas com o prisma fazendo contacto óptico através de óleo de imersão para o substrato. Em TIRPAS ou refractométrico PAS / TIRPAS, contato com líquidos direta é obtida com a amostra sobre o substrato para o teste. Em OTPAS, o acoplamento óptico throurg óleo de imersão adicional entre o substrato e o látex de borracha vermelho permite encapsulamento óptico para ocorrer. A montagem é então apertados em conjunto com uma chave de torque e parafusos de montagem. Por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. Figura 4. TIRPAS dados típicos. Formas de onda TIRPAS normalmente têm uma aparência sinal acústico bipolar, que é característica do método TIRPAS. Por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. Figura 5. PAS / TIRPAS dados típicos. </ Forte> Esquerda: Dados espectro angular que é obtida por irradiação da amostra em vários ângulos de incidência. Direita: derivada numérica da figura da esquerda que revela um mínimo local que indica a transição a partir da PAS a regimes TIRPAS, que por sua vez corresponde com a posição do ângulo crítico. Reproduzido com permissão. 18 Por favor, clique aqui para ver uma versão maior desta figura. Figura 6. Programa de fluxograma. O programa é executado em poucos passos iterativos. A montagem prisma está definido para zero graus e, em seguida, os parâmetros são selecionados antes de executar o programa. Em seguida, o programa é executado para adquirir um espectro angular de ambos um substrato e um filme. Finalmente, é uma curva de ajuste para os dados para estimar o índice de refracção e espessura de película. Reproduzido com permissão. 6 Por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. . Figura 7. OTPAS dados típicos Esquerda: Esta figura mostra os scans espectro angular de um filme de MgF 2 e um substrato N-BK7 respectivamente. Direita: Ao dividir a película angular verificação espectro MgF2 pela verificação substrato N-BK7 e multiplicar por um factor constante beta, pode ser obtido o grau de encapsulamento óptico (%) versus ângulo de incidência, o qual permite a estimativa da refracção índice e espessura da película fina. por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura. PAS / TIRPAS amostra 1 amostra 2 amostra 3 amostra 4 amostra 5 Atago R-5000 Vermelho directo / PEG 125 ug / ml 1.395 1.395 1.395 1.395 1.395 1,395-1,397 Vermelho directo / PEG 250 ug / ml 1,39 1,39 1,39 1,39 1,39 1,390-1,396 Vermelho directo / PEG 500 ug / ml 1.388 1.389 1.389 1.389 1.389 1,381-1,395 Vermelho directo / PEG 750 ug / ml 1.382 1.382 1.387 1.387 1.387 1,372-1,395 </td> mioglobina 460 ug / ml 1.33 1.329 1.331 1.33 1.331 1.335 Tabela 1. Resultados da PAS / TIRPAS. A tabela seguinte mostra os resultados típicos para corante vermelho directo com 50% de PEG misturado para aumentar o índice de refracção. Reproduzido com permissão. 18 tipo de teste Técnica tipo de filme Índice de refração Espessura (nm) Intrasample OTPAS MgF 2 200 nm 1.384 ± 0.004 203 ± 6 Intrasample ellipsometry MgF 2 200 nm 1.393 ± 0.001 192,4 ± 1,1 Intersample OTPAS MgF 2 200 nm 1,395 ± 0,011 220 ± 19 Intersample elipsometria MgF 2 200 nm 1.392 ± 0.002 195,2 ± 1,8 Tabela 2. OTPAS resultados. A tabela a seguir mostra os resultados típicos para 200 nm MGF 2 filmes finos em OTPAS vs. elipsometria espectroscópica. Intrasample refere-se ao teste de uma única película de dez vezes, ao passo que intersample refere-se a testar dez filmes de forma independente. Reproduzido com permissão. 6 # De médias </strong> 1 ângulo inicial 60 Warmup (min) 0 Índice de refração (prisma) 1.519 # scans 1 Tamanho do passo 0,1 salvar a .csv "YourFileName" microstep # 10 Set Q-switch 275 ângulo de paragem 80 Laser seleccionar Surelite Velocidade (rpm) 500 A tolerância de erro (%) 5 inicialização Laser em Filtro passa-baixa (progRAM) 1,00 x 10 7 Acceleration (RPS) 200 Tabela 3. Configurações do espectro angular para refractometry PAS / TIRPAS. A tabela a seguir mostra as configurações necessárias para um espectro angular em refractometry PAS / TIRPAS. # De médias 64 ângulo inicial 70 Warmup (min) 1 Índice de refração (prisma) 1.519 # scans 1 Tamanho do passo 0,1 salvar a "YourFileName &# 8221; .csv microstep # 10 Set Q-switch 275 ângulo de paragem 72 Laser seleccionar Surelite Velocidade (rpm) 500 A tolerância de erro (%) 5 inicialização Laser em Filtro passa-baixa (programa) 1,00 x 10 7 Acceleration (RPS) 200 Tabela 4. Definições espectro angular para OTPAS. A tabela a seguir mostra as configurações necessárias para um espectro angular em OTPAS. Menor índice de refração 1 </ Td> Tolerância 1,00 x 10 -12 acoplador de RI 1.519 dados substrato Selecione yourfilename.csv menor espessura 0 nm Suposição índice de refração 1.3 Comprimento de onda 532 nm Vários arquivos salvar Selecione yourfilename.csv espessura superior 1.000 nm suposição de espessura 200 nm Polarização P polarizada Quantos arquivos # De arquivos que você quer caber Max iteração 5.000 SubstratoRI 1.519 dados de película Selecione yourfilename.csv Tipo de ajuste ajuste Single / ajuste Batch Tabela 5. Curva parâmetros de ajuste. A tabela a seguir mostra os parâmetros de ajuste de curvas necessárias para a estimativa de parâmetro correto. Suplementar arquivo de código:. Película fina OTPAS analyzer_USB-5133.vi Por favor clique aqui para baixar esse arquivo.

Discussion

The use of devices for the characterization of materials at the nanoscale will undoubtedly continue far into the future in order to produce new materials and combinations of materials to solve difficult and costly societal problems. Many methods such as ellipsometry, atomic force microscopy (AFM), and traditional photoacoustics are currently used to evaluate material properties at the nanoscale despite their inherent limitations due to few alternatives. EFPA shows promise as a consolidated set of techniques that can push beyond the typical limitations of the photoacoustic effect to provide a single instrument to characterize materials at the nanoscale.

The protocol described herein and its associated sub-techniques have the capability to estimate both bulk and thin film refractive indices of a material, film thickness, and have detection capabilities for a variety of biosensing applications. OTPAS specifically has the advantage that it can estimate the thickness and refractive index of nanometer scale films despite the fact that the films themselves do not contain inherently absorbing pigmentation. EFPA as a consolidated set of techniques has a few advantages over techniques such as ellipsometry, atomic force microscopy, and the traditional photoacoustic effect. The first advantage is that EFPA is comparatively inexpensive to set up. A typical EFPA setup can estimate refractive index from both the bulk and surface, can estimate thickness, and can probe absorbing materials and will cost around $5,000 to set up. In contrast, AFM setups cost around $50,000 and cannot estimate optical properties. Secondly, EFPA can estimate these properties within a few minutes without complex interaction such as in ellipsometry where input parameter error can cause differences in results. Finally, EFPA, when compared to the traditional photoacoustic effect, has axial resolution 100X smaller as it can estimate thickness of 200 nm films6 whereas the traditional photoacoustic effect is limited to 7,500 nanometers when using similar lasers and setup82. Conveniently, almost every material has independent and differing surface and bulk refractive index properties as well as absorptive properties, which collectively make for functional differences in their use in optical research systems.

Critical steps within the protocol come down to three primary considerations. First, optical coupling of the sample, whether that be a liquid or a film, is crucial to obtain reliable and repeatable results. Air bubbles within the immersion oil or sample will lead to inaccurate characterization of the thickness, refractive index, and in some cases a complete lack of sensitivity of the transducer to the excited sample owing to the inability of ultrasound to adequately pass through a liquid/air interface due to vastly differing acoustic impedance values. Second, with regard to OTPAS, a sample that is homogeneously thick in the area irradiated by the laser beam in order to provide consistent thickness values during scanning since as of yet EFPA cannot determine thickness differences within the area of excitation. Finally, again with regard to OTPAS, the sample film must be transparent to the wavelength being used. This is a fundamental assumption made in the mathematical equations that describe how OTPAS finds thickness and refractive index values. If absorption is substantial enough that more than 1% of the incident light is absorbed by the film, characterization will not match the real thickness and refractive index values of the film.

Modifications to the EFPA technique can be made with relative ease and other types of components can be substituted in for more effective scans or functionality. The only major issues that have to be addressed when building an EFPA system are the following. First, it is crucial to have a method of automatically rotating a prism mount and acquiring acoustic signals at small (0.05 degree) increments. Second, having a nanosecond pulse width or shorter laser system to excite samples using the photoacoustic effect. Third, having a graphical user interface or program to acquire the data to do mathematical curve fitting and numerical derivatives for estimating thickness and bulk/thin film refractive index.

There are three fundamental limitations to EFPA. The first is that in order to find the bulk refractive index, thin film refractive index, thickness, or detect materials using TIRPAS, the sample must have a refractive index that is less than that of the prism or substrate it is in contact with so that total internal reflection can occur which is the basis of all three of these techniques. The second limitation is that EFPA currently requires physical contact in order to estimate thickness, refractive index, and for detection of properties. The final limitation is that OTPAS, a sub-technique of EFPA, currently requires optically transparent materials to estimate thickness and refractive index of the thin film of interest.

This type of consolidated instrument could find many applications in characterization environments including research cores and industrial environments. Future work regarding EFPA techniques is focused on the improvement of the refractive index accuracy through improvements in instrumentation and translational/rotational stages. Additional advancements will focus around the improvement of signal-to-noise ratio for the detection of smaller quantities of absorbing materials, so as to characterize weakly absorbing materials, as are found most commonly in biological systems.

Disclosures

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

Este projecto foi financiado pelo Prêmio BRIGE National Science Foundation (1.221.019).

Materials


 

100 mm plano convex lens Thorlabs LA1509 Plano convex lens for beam expander
-30 mm plano concave lens Thorlabs LC2679 Plano concave lens for beam expander
10 MHz Ultrasonic transducers Harisonic I31006T Ultrasonic sensors used for photoacoustic detection, both for laser energy measurement and for OTPAS mount
Immersion oil Type A Cargille 16482 Index of 1.519 to match that of NBK-7 substrates
Natural latex rubber sheet (red) McMastercarr 86085K11 Index ~1.519 to match that of Type A immersion liquid to act as an optical absorber to measure optical tunneling and laser energy
Laser goggles VERE 53 Used to protect eyes from laser light
Cage mounted non polarizing beam splitter cube Thorlabs CM1-BS013 Split laser light so that one half can be measured and one half can be used for excitation
Cage mounted polarizing beam splitter cube Thorlabs CM1-PBS251 Ensure light is polarized before being used for optical tunneling experiments
Graduated ring activated iris diaphragm Thorlabs SM1D12C Cut beam down to a smaller size for alignment
Data acquisition card National Instruments USB-5133 USB oscilloscope to acquire data
Stepper motor driver National Instruments MID-7604 Stepper motor driver to drive stepper motors for angular spectra
Sherline XY stage (14”) Sherline 5600-CNC/5610-CNC Sherline XY stage
4-jaw self centering chuck Sherline 1076/1034 Sherline rotational attachment
Right angle attachment Sherline 3701 Right angle attachment to attach rotational mount
CNC rotary table Sherline 8730 Rotary table for holding OTPAS prism/sample
Surelite I-20 laser system Continuum I-20 Q-switched Nd:YAG laser for exciting samples
NBK-7 prism Thorlabs PS911 Right angle prism for EFPA
Adjustable torque wrench Tohnichi RTD40Z Adjustable torque wrench to equally tighten down the EFPA mount for each technique to 16.75 g/mm
Digital level Micromark 84519 Digital level to ensure EFPA prism holder starts at 0 degrees.

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