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・鉱物及び岩石試料の蛍光を放射光 x 線回折

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Engenharia

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Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples

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・鉱物及び岩石試料の蛍光を放射光 x 線回折

DOI:

10.3791/57874-v

•

10:12 min

•

June 19, 2018

•

Camelia V. Stan, Nobumichi Tamura

¹Advanced Light Source,Lawrence Berkeley National Laboratory

Capítulos

00:04Título
01:03Beamline Setup and Data Collection
03:47X-Ray Microdiffraction Analysis of Single-Crystal Data
05:44X-Ray Microdiffraction Analysis of Powder Diffraction Data
06:53Results: Combined X-Ray Diffraction and X-Ray Fluorescence Analysis of Moissanite and an Olive Snail Shell
08:58Conclusion

Summary

Tadução automática

ビームラインセットアップラウエ (多色放射) または回折 (単色放射) を使用して単一の結晶または粉末試料の急速な二次元 x 線蛍光と x 線回折のマッピングを実行するためのものについて述べる。作成したマップは、ひずみ、方向、位相分布および塑性変形に関する情報を与えます。

Tags

Keywords: – Synchrotron X-ray Microdiffraction – Fluorescence Imaging – Mineral – Rock Samples – Grain And Phase Distribution – Mineral Physics – Mineral Chemistry – X-ray Microfluorescence – X-ray Microdiffraction – Sample Preparation – EBSD – Plastic Deformation – Metamorphic Rocks – Kinematic Base – Beamline Control Software – Translation Stage – Alignment Laser – Slit Setup – Monochromator Energy – Toroidal Mirror – Fluorescence Mapping – X-ray Fluorescence Scan

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