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Rekombinationsdynamik in Dünnschicht-Photovoltaik-Materialien über zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeit
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Recombination Dynamics in Thin-film Photovoltaic Materials via Time-resolved Microwave Conductivity
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Rekombinationsdynamik in Dünnschicht-Photovoltaik-Materialien über zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeit

DOI:
10.3791/55232-v

•

11:30 min

•

March 06, 2017

•

, , ,
1ARC Centre of Excellence in Exciton Science, 2School of Physics,University of New South Wales, 3CSIRO,CSIRO Energy Centre, 4School of Chemistry,University of New South Wales

Capítulos

  • 00:05Título
  • 00:38Prepare for the Experiment
  • 01:41Couple the Free-space Laser into a Fiber
  • 02:41Measure Cavity Loss Factor and Mount the Sample
  • 03:51Cavity Sensitivity Calibration
  • 05:10Determine the Optimal Measurement Parameters
  • 07:17Measure the Time-resolved Microwave Conductivity Traces as a Function of Microwave Probe Frequency
  • 08:01Intensity Dependent Data Suite
  • 09:00Results: Time-resolved Microwave Conductivity Characterization of Recombination Dynamics in CH3NH3PbI3
  • 10:29Conclusion

Summary

Tadução automática

Tadução automática

A Time Resolved Microwave Conductivity technique for investigating direct and trap-mediated recombination dynamics and determining carrier mobilities of thin film semiconductors is presented here.

Tags

Keywords: Microwave ConductivityRecombination DynamicsThin-film PhotovoltaicsCharge Carrier DecayTrap StatesBand-to-band RecombinationNon-contact MeasurementMicrowave CavityNetwork AnalyzerLaserOptical AlignmentFiber CouplingCavity Loss Factor

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