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समवर्ती मात्रात्मक चालकता और कार्बनिक फोटोवोल्टिक AFM सामग्री का उपयोग के यांत्रिक गुण माप
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Concurrent Quantitative Conductivity and Mechanical Properties Measurements of Organic Photovoltaic Materials using AFM
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समवर्ती मात्रात्मक चालकता और कार्बनिक फोटोवोल्टिक AFM सामग्री का उपयोग के यांत्रिक गुण माप

DOI:
10.3791/50293-v

•

08:59 min

•

January 23, 2013

•

,
1Center for Nanoscale Materials,Argonne National Laboratory, 2Institute for Molecular Engineering,University of Chicago

Capítulos

  • 00:05Título
  • 02:21Signal Acquisition
  • 04:55Data Analysis
  • 07:30Results: Young’s Modulus and Resistivity Maps for Photovoltaic Materials
  • 08:30Conclusion

Summary

Tadução automática

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कार्बनिक सामग्री फोटोवोल्टिक (ओपीवी) स्वाभाविक nanometer पैमाने पर inhomogeneous हैं. ओपीवी सामग्री नेनो पैमाने inhomogeneity उपकरणों फोटोवोल्टिक के प्रदर्शन को प्रभावित करता है. इस पत्र में, हम उप-100 एनएम संकल्प के साथ ओपीवी सामग्री की विद्युत और यांत्रिक गुणों के मात्रात्मक मापन के लिए एक प्रोटोकॉल का वर्णन है.

Tags

Organic Photovoltaic MaterialsNanoscale InhomogeneityElectrical PropertiesMechanical PropertiesAFMPeakForceConductive AFMP3HT:PC61BMDomain Structure

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