ジャーナル
/
工学
/
Plasmonische Trapping en het vrijkomen van nanodeeltjes in een Monitoring Milieu
JoVE Journal
工学
このコンテンツを視聴するには、JoVE 購読が必要です。  サインイン又は無料トライアルを申し込む。
JoVE Journal 工学
Plasmonic Trapping and Release of Nanoparticles in a Monitoring Environment
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Plasmonische Trapping en het vrijkomen van nanodeeltjes in een Monitoring Milieu

7,447 Views

•

09:13 min

•

April 04, 2017

DOI:

10.3791/55258-v

DOI:
10.3791/55258-v

•

09:13 min
April 04, 2017

•

1 Views
,
1Division of Scientific Instrumentation,Korea Basic Science Institute (KBSI), 2機械工学部,Gwangju Institute of Science and Technology (GIST)

概要

Automatically generated

Een microchip fabricageproces dat plasmonische pincet opgenomen wordt hier gepresenteerd. De microchip maakt het afbeelden van een gevangen deeltje trapping maximale krachten meten.

Explore More Videos

Plasmonic NanoholeParticle TrappingParticle Monitoring2D Particle MotionPDMS MicrochannelGold PlatePhotolithographySpin CoatingUV ExposureImmunoassayCell TrappingLiposome AnalysisNanoparticle Drug Release

Read Article

Cite this Article

Kim, J., Lee, Y. Plasmonic Trapping and Release of Nanoparticles in a Monitoring Environment. J. Vis. Exp. (122), e55258, doi:10.3791/55258 (2017).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy