ジャーナル

/

工学

/

قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون

JoVE Journal
工学

このコンテンツを視聴するには、JoVE 購読が必要です。 サインイン又は無料トライアルを申し込む。

JoVE Journal 工学

Measurement of Quantum Interference in a Silicon Ring Resonator Photon Source

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون

8,204 Views

•

12:19 min

•

April 04, 2017

DOI:

10.3791/55257-v

DOI:

10.3791/55257-v

•

12:19 min

April 04, 2017

•

3 Views

Jeffrey A. Steidle¹, Michael L. Fanto^1,2, Stefan F. Preble¹, Christopher C. Tison^2,3,4, Gregory A. Howland², Zihao Wang¹, Paul M. Alsing²

¹Microsystems Engineering,Rochester Institute of Technology, ²Air Force Research Laboratory, Rome, NY, ³物理学科,Florida Atlantic University, ⁴Quanterion Solutions Incorporated

概要

السيليكون رقائق الضوئية لديها القدرة على تحقيق أنظمة الكم متكاملة معقدة. المقدمة هنا هي طريقة لإعداد واختبار رقاقة السيليكون الضوئية لقياس الكم.

Explore More Videos

Quantum Interference Silicon Ring Resonator Photon Source Integrated Photonics Chip-scale Photon Pair Source Quantum Integrated Photonic Circuits Photonic Chip Pump Circuit Ring Resonator Mach-Zehnder Interferometer On-chip Heating Phase Shift Chip Polishing Fiber Preparation Fiber Stripper Fiber Cleaver Fusion Splicer Sleeve Oven

Read Article