A Machine-Vision Approach to Transmission Electron Microscopy Workflows, Results Analysis and Data Management

Madeline  Dressel Dukes; Nynke Albertine Krans; Katherine Marusak; Stamp Walden; Tim Eldred; Alan Franks; Ben Larson; Yaofeng Guo; David Nackashi; John Damiano

doi:10.3791/65446

TEM Workflows, Results Analysis, and Data Management Using a Machine-Vision Approach

June 23, 2023

גישת ראיית מכונה לתהליכי עבודה של מיקרוסקופ אלקטרונים תמסורת, ניתוח תוצאות וניהול נתונים

02:37 min

•

732 Views

כיול מינון של מיקרוסקופ אלקטרונים תמסורת עבור מצבי הדמיה TEM וסריקת TEM (STEM) באמצעות גישת ראיית מכונה

00:50 min

•

120 Views

קביעת סף מינון באמצעות תוכנת סנכרון ראיית מכונה (MVS) ומינון

02:12 min

•

61 Views

ניתוח מטה-נתונים ומגמות וייצוא נתונים באמצעות תוכנת הניתוח

02:57 min

•

73 Views

מחקר חימום באתרו של זהב על ננו-חלקיקי תחמוצת ברזל

02:23 min

•

86 Views

Madeline Dressel Dukes, Nynke Albertine Krans, Katherine Marusak, Stamp Walden, Tim Eldred, Alan Franks, Ben Larson, Yaofeng Guo, David Nackashi, John Damiano

¹Protochips, Inc.

概要

כאן, אנו מציגים פרוטוקול לשימוש בתוכנת ראיית מכונה לייצוב תהליכים דינמיים במהלך הדמיית TEM, תוך יצירת אינדקס בו זמנית של זרמים מרובים של מטא נתונים לכל תמונה לציר זמן הניתן לניווט. אנו מדגימים כיצד פלטפורמה זו מאפשרת כיול ומיפוי אוטומטיים של מינון האלקטרונים במהלך ניסוי.