Rivista
/
Ingegneria
/
Lumped-Parameter en Finite Element Modeling of Heart Failure met geconserveerde ejectiefractie
JoVE Journal
Ingegneria
È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo.  Accedi o inizia la tua prova gratuita.
JoVE Journal Ingegneria
Lumped-Parameter and Finite Element Modeling of Heart Failure with Preserved Ejection Fraction
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Lumped-Parameter en Finite Element Modeling of Heart Failure met geconserveerde ejectiefractie

DOI:
10.3791/62167-v

•

09:20 min

•

February 13, 2021

•

, ,
1Institute for Medical Engineering and Science,Massachusetts Institute of Technology, 2Health Science and Technology Program,Harvard/Massachusetts Institute of Technology, 3Department of Mechanical Engineering,Massachusetts Institute of Technology

Capitoli

  • 00:05Introduction
  • 00:43Zero-Dimensional (0D) Lumped-Parameter Model
  • 01:48Finite Element Analysis (FEA) Model
  • 04:38Aortic Valve Stenosis
  • 05:29Heart Failure with Preserved Ejection Fraction (HFpEF) Hemodynamics
  • 06:46Results: Representative Lumped-Parameter and FEA Heart Failure Modeling
  • 08:26Conclusion

Summary

Traduzione automatica

Traduzione automatica

Dit werk introduceert twee computationele modellen van hartfalen met geconserveerde ejectiefractie op basis van een lumped-parameter benadering en eindige elementenanalyse. Deze modellen worden gebruikt om de veranderingen in de hemodynamica van de linkerventrikel en gerelateerde vasculatuur veroorzaakt door drukoverbelasting en verminderde ventriculaire naleving te evalueren.

Tags

Keywords: Lumped-parameter ModelingFinite Element ModelingHeart FailurePreserved Ejection FractionCardiovascular HemodynamicsComputational ModelingMedical Device DevelopmentHeart ModelingCardiac MechanicsCardiac Electrophysiology

Article

Embed

AGGIUNGI ALLA PLAYLIST

Usage Statistics

Video correlati

check_url/it/62167?article_type=v

In Situ Tijdafhankelijk Diëlektrische Breakdown in de Transmission Electron Microscope: een mogelijkheid om het faalmechanisme in Microelectronic Devices Begrijp
check_url/it/62167?article_type=v

Fabrication van High Contrast Roosters voor de Spectrum Splitting Dispersieve Element in een geconcentreerde Zonneinstallatie
check_url/it/62167?article_type=v

Failure Analysis Batterijen met synchrotron gebaseerde Hard X-ray Microtomografie
check_url/it/62167?article_type=v

Met behulp van Synchrotron Radiation Microtomografie Multi-scale Driedimensionale Microelectronic pakketten Onderzoek
check_url/it/62167?article_type=v

In Vitro Cultuur van epicardiale cellen uit muis embryonale Heart
check_url/it/62167?article_type=v

Een fabricage- en meetmethode voor een flexibele ferroelektrische Element op basis van Van Der Waals Heteroepitaxy
check_url/it/62167?article_type=v

Verbeterde Electron injectie en Exciton opsluiting voor zuivere blauwe Quantum-Dot-lichtdioden door de invoering van gedeeltelijk geoxideerd aluminium Cathode
check_url/it/62167?article_type=v

Een snelle methode voor het modelleren van een variabele cyclus motor
check_url/it/62167?article_type=v

Productie van een stammeetapparaat met een verbeterde 3D-printer
check_url/it/62167?article_type=v

Visualisatie van falen en het bijbehorende mechanische gedrag op korrel schaal van korrelvormige bodems onder afschuiving met behulp van Synchrotron X-Ray micro-tomografie

Read Article