Journal
/
Ingénierie
/
Et virtuelt simuleringseksperiment af mekanik: materialedeformation og svigt baseret på scanningelektronmikroskopi
Journal JoVE
Ingénierie
Un abonnement à JoVE est nécessaire pour voir ce contenu.  Connectez-vous ou commencez votre essai gratuit.
Journal JoVE Ingénierie
A Virtual Simulation Experiment of Mechanics: Material Deformation and Failure Based on Scanning Electron Microscopy

Et virtuelt simuleringseksperiment af mekanik: materialedeformation og svigt baseret på scanningelektronmikroskopi

DOI:
10.3791/64521-v

•

06:54 min

•

January 20, 2023

•

, , ,
1School of Civil Engineering,Wuhan University, 2Department of Artificial Intelligence and Automation,Wuhan University

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:44Molding the Specimen
  • 02:48Specimen Characterization, Loading, and Nanoindenter Installation
  • 03:40In‐Situ Scanning Electron Microscopy (SEM) Experiment
  • 04:56Results: Efficiency of the Web-Based Virtual Simulation Experiment
  • 06:22Conclusion

Summary

Traduction automatique

Traduction automatique

Dette arbejde præsenterer et tredimensionelt virtuelt simuleringseksperiment for materialedeformation og fejl, der giver visualiserede eksperimentelle processer. Gennem et sæt eksperimenter kan brugerne blive fortrolige med udstyret og lære operationerne i et fordybende og interaktivt læringsmiljø.

Tags

Virtual SimulationMaterial DeformationMaterial FailureScanning Electron MicroscopyExperimental ProtocolsEquipment UseTheoretical VerificationLaboratory SkillsHigh Temperature Universal Creep Testing MachineParallel Plate Compression MoldingMetallographic Specimen InlayingPolymethyl Methacrylate (PMMA)PolishingCorrosion

Article

Embed

AJOUTER À LA PLAYLIST

Usage Statistics

Vidéos Connexes

Scanning-sonde Single-elektron Capacitance spektroskopi

Eksperimentelle metoder til undersøgelse af Shape Memory Baseret Elastocaloric Køling Processer og Model Validation

Simulering af Menneske-induceret Vibrations Baseret på Karakteriseret In-field Fodgænger Behavior

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)

Omfattende karakterisering af Extended Fejl i Semiconductor Materials af en Scanning Electron Microscope

Hand Kontrolleret Manipulation af enkelte molekyler via en Scanning Probe mikroskop med en 3D Virtual Reality-grænseflade

Studere dynamiske processer af Nano-størrelse Objekter i Liquid hjælp Scanning Transmission Electron Microscopy

Precision Milling af kulstof nanorør skove Brug Low Pressure Scanning Electron Microscopy

Udfordringer i Rheologisk Karakterisering af stærkt koncentrerede Karantæner - et casestudie til silketryk Silver Indsætter

Undersøgelse af sifon Breaker eksperiment og Simulation for en forskningsreaktoren

Read Article