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Caratterizzazione su scala nanometrica di interfacce liquido-solido mediante accoppiamento di fresatura a fascio ionico crio-focalizzato con microscopia elettronica a scansione e spettroscopia
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Chapitres
- 00:04Introduction
- 00:29Scanning Electron Microscope (SEM) and Cryogenic Station Preparation
- 01:31Sample Vitrification
- 02:51Sample Surface Imaging and Feature Location
- 04:19Cross-Section Preparation
- 06:52Energy Dispersive X-Ray (EDX) Mapping
- 08:12Results: Representative Nanoscale Liquid-Solid Interface Characterization
- 10:24Conclusion
Le tecniche FIB (Cryogenic Focused Ion Beam) e SEM (Scanning Electron Microscopy) possono fornire informazioni chiave sulla chimica e la morfologia delle interfacce solido-liquido intatte. I metodi per la preparazione di mappe spettroscopiche a raggi X a dispersione di energia (EDX) di alta qualità di tali interfacce sono dettagliati, con particolare attenzione ai dispositivi di accumulo di energia.
