Journal
/
/
הכנת חלקיקים לניתוח ToF-SIMS ו- XPS
Journal JoVE
Chimie
This content is Free Access.
Journal JoVE Chimie
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapitres

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

Traduction automatique

מספר הליכים שונים להכנת חלקיקים לניתוח פני השטח מוצגים (יציקת טיפה, ציפוי ספין, תצהיר מאבקות, קריופיקסציה). אנו דנים באתגרים, בהזדמנויות וביישומים האפשריים של כל שיטה, במיוחד לגבי השינויים במאפייני פני השטח הנגרמים על ידי שיטות ההכנה השונות.

Vidéos Connexes

Read Article