A Novel Method for In Situ Electromechanical Characterization of Nanoscale Specimens

Russell C. Reid; Alberto Piqu&#233;; Wonmo Kang

doi:10.3791/55735

Journal

/

Ingénierie

/

שיטה חדשה עבור באתרו אפיון אלקטרומכני של דגימות ננומטריות

Journal JoVE
Ingénierie

This content is Free Access.

Journal JoVE Ingénierie

A Novel Method for In Situ Electromechanical Characterization of Nanoscale Specimens

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

שיטה חדשה עבור באתרו אפיון אלקטרומכני של דגימות ננומטריות

8,784 Views

•

07:15 min

•

June 02, 2017

DOI:

10.3791/55735-v

DOI:

10.3791/55735-v

•

07:15 min

June 02, 2017

•

3 Views

Russell C. Reid^1,2, Alberto Piqué¹, Wonmo Kang^1,3

¹Materials Science and Technology Division,US Naval Research Laboratory, ²American Society for Engineering Education—Naval Research Laboratory (ASEE-NRL), ³Leidos Corporation

Summary

בידוד תופעות חשמליות ותרמיות על דפורמציה בסיוע חשמלי (EAD) הוא מאוד קשה באמצעות דגימות macroscopic. Metallic מדגם מיקרו ננו יחד עם נוהל בדיקה מותאמת אישית פותחו כדי להעריך את ההשפעה של הנוכחי להחיל על היווצרות ללא חימום ג 'אול ואבולוציה של נקעים על דגימות אלה.

Explore More Videos

Nanoscale TEM In-situ Electromechanical Characterization Silicon Wafer Deep Reactive Ion Etching Silicon Dioxide Copper Foil Photoresist Laser Cutting Ferric Chloride

Read Article

שיטה חדשה עבור<em> באתרו</em> אפיון אלקטרומכני של דגימות ננומטריות

Summary

Automatically generated

Explore More Videos