Summary

使用 原位 透射电子显微镜筛选全固态电池涂层

Published: January 20, 2023
doi:

Summary

利用(脱)锂化过程中Si纳米颗粒的体积变化,本协议描述了一种使用 原位 透射电子显微镜筛选全固态电池潜在涂层的方法。

Abstract

随着锂离子电池的使用不断增加,特别是由于它们在电动汽车中的采用,它们的安全性成为首要关注点。因此,使用固体电解质代替液体电解质的全固态电池(ASSB)降低了可燃性的风险,在过去几年中一直是电池研究的中心舞台。然而,在ASSB中,由于接触和化学/电化学稳定性问题,通过固体-固体电解质-电极界面的离子传输带来了挑战。在电极和/或电解质颗粒周围涂覆合适的涂层提供了一种方便的解决方案,从而提高了性能。为此,研究人员正在筛选潜在的电子/离子导电和非导电涂层,以找到具有合适厚度的最佳涂层,以实现长期化学,电化学和机械稳定性。Operando透射电子显微镜(TEM)将高空间分辨率与高时间分辨率相结合,允许动态过程的可视化,因此是通过实时研究单个颗粒水平的(脱)锂化 评估电极/电解质涂层的理想工具。然而,在典型的高分辨率 原位 工作期间累积的电子剂量可能会影响电化学途径,其评估可能非常耗时。目前的协议提出了一种替代程序,其中电位涂层施加在Si纳米颗粒上,并在操作TEM实验期间进行(脱)锂化。Si纳米颗粒在(脱)锂化过程中的高体积变化允许在相对较低的放大倍率下监测涂层行为。因此,整个过程非常有效地电子剂量,并提供了对潜在涂层的快速筛选。

Introduction

今天,锂离子电池无处不在,从智能手机和笔记本电脑等各种电子设备到电动汽车,其数量急剧上升,以摆脱以化石燃料为基础的经济12。随着这种不断增加,锂离子电池的安全特性成为高度优先的要求3。传统锂离子电池中通常使用的液体电解质是易燃的,尤其是在较高的工作电压和温度下。相比之下,在全固态电池(ASSB)中使用不易燃的固体电解质可降低易燃性的风险4。这和潜在的高能量密度使ASSB在过去几年中成为研究的焦点。然而,ASSB中的固体-固体电解质-电极界面带来了与传统的液-固电极-电解质界面5完全不同的挑战。ASSB中使用的许多电解质对锂和阴极在化学和/或电化学上都不稳定。因此,电极-电解质界面处的分解反应导致钝化层的形成,导致离子传输受限和内阻增加,导致电池循环中的容量下降6。防止这种反应的最常见方法之一是在电极和/或电解质上涂覆涂层,以确保电极-电解质之间没有直接接触并产生稳定的界面。为此,目前正在研究不同的电子和离子导电涂层78

理想涂层的主要要求是:它必须允许离子传导;不得增加电池的内阻;并且它必须在许多电池循环中保持化学和机械稳定性。涂层厚度、单层或多层以及理想的涂层工艺等其他问题对于ASSB的商业化是主要关注点。因此,需要一种筛选方法来找出最佳的涂层。

透射电子显微镜(TEM)已被用于研究ASSB中高达原子尺度910的固-固界面。此外,operando TEM提供了在TEM内构建微型电池并研究电池循环过程中电池过程的可能性。为了跟踪电池中的锂离子运动,需要高分辨率成像11。然而,在整个实验过程中,这种高分辨率成像固有的高电子束剂量可能会改变电化学途径。另一种方法是涂在硅纳米颗粒(NPs)上并进行(脱)锂化的涂层。在操作TEM实验中,由于Si纳米颗粒在(脱)锂化过程中的高体积变化,可以在低放大倍率下监测锂化过程121314。因此,可以在相对较低的电子剂量下监测整个电池循环过程。此外,由于Si的高体积变化而在涂层上产生的应力将类似于在多个循环中在涂层上产生的应力。因此,还可以探测涂层的长期机械稳定性。本文旨在通过不同厚度的TiO2涂层示例,分享如何进行这种操作TEM实验来筛选潜在的ASSB涂层。该协议将解释将涂层Si NP加载到原位TEM支架上,观察TEM中涂层Si NP的锂化,并分析TEM图像。

Protocol

1. 半切TEM网格上TiO 2包覆Si纳米颗粒(TiO2@Si NPs)的制备 准备一个半切的TEM网格。将带有花边膜的 3 mm TEM 网格(参见 材料表)放在干净的载玻片上。 用剃须刀片将TEM网格切成半切网格。 将TiO2@Si NP滴投到半切TEM网格上。注意:在本研究中,使用通过原子层沉积15 涂覆有 5 nm/10 nm TiO2的 100 nm 尺寸的 Si NP。研究人员可以通过多种方式制备包覆的Si NPs。将 TiO2@Si NP 分散到 10 mL 丙酮中,并用移液器滴到其中一个半切 TEM 网格上。注意:大约 10 5 μL 液滴将在半切 TEM 网格边缘产生足够的TiO2@Si NP。 检查TiO2@Si NP是否通过TEM 放置在 边缘。注意:这不是必需的,但建议这样做。 将钨丝 (W) 线连接到半切 TEM 网格上。使用钳子(见 材料表)将W线切成小块,长度为0.5-1厘米。 在干净的载玻片上混合两种导电胶成分。用导电胶将 W 线粘在半切网格上。 通过在室温下在安全的地方干燥4小时来固化导电胶。注意:为了加速固化,将试样在100°C左右的热板上加热10分钟。 2. 准备W针 用钳子将W线切成小块,长度为~2厘米。将W线安装在电抛光机上(见 材料表)。 在 10 mL 烧杯中混合 50% 的 1.3 mol/L NaOH 和 50% 的乙醇。设置对电极的适当可移动范围,以从烧杯中携带电解液。注意:可以通过反复上下移动环来调整电解抛光区域。通过设置环的垂直移动范围,抛光区域被限制在 2-4 mm。回路的垂直移动次数设置为每次行程五次,以将环浸入电解质烧杯中。 施加电压,直到W线被切成两块 – 两个锋利的W针。注意:本研究中使用的抛光条件是电压(4.0 V)和回路的垂直迭代运动(2-4 mm),每个电解质进行五次迭代。 将准备好的W针装入探头上。 3. 将滴铸的 TEM 网格和 W 针装入原 位 TEM 支架 将滴铸半切 TEM 网格、W 针加载探头头、 原位 TEM 支架和小手套袋(打开)插入无气手套箱(见 材料表)。 用准备好的 W 针(Li/LixO@W 针)探头划伤锂金属。注意:Li很容易被少量的水氧化(Li/LixO)。 将Li/Lix O@W针头安装到 原位 TEM支架上。将滴铸半切 TEM 网格加载到 原位 TEM 支架上(图 1)。 将组装好的 原位 TEM 支架放入一个小手套袋中。合上小手套袋,将其从手套箱中取出。注意:在原位实验之前取出组装好的原位TEM支架,以便空气接触尽可能低。 4. 将组装好的 原位 支架插入透射电镜 注意:Li/LixO@W针在手套袋中会被空气或水氧化,所以要小心。 用大手套袋密封空的TEM测角仪(见 材料表)。将装有组装好的 原位 TEM支架的封闭小手套袋放入大手套袋中。 用惰性气体(Ar 或 N2)泵送和吹扫大手套袋三次以上。注意:单次泵送和吹扫过程可能需要大约几分钟。 打开小袋子并插入组装好的 原位 TEM 支架。将电缆连接到 原位 TEM 支架。注意: 一根电缆用于从控制设备移动针,另一根用于从电源施加电压或电流(请参阅 材料表)。 5. 在透射电镜中进行 原位 偏置实验 对齐电子束。注意:所有TEM技术和原理都可以从参考文献16中学习。 将Li/Lix O@W针朝TiO 2@Si NP移动(图2)。设置最低放大倍率。找到半切 TEM 网格。通过 TEM 测角仪将网格定位到共心高度。找到Li/LixO@W针。 运行 TEM 舞台摇摆。通过粗动(惯性滑动与重复脉冲)将针定位到共心高度。注意:针移动的最小化表示共心高度。 通过粗略的移动将针靠近网格。增加放大倍率。 将针向前移动到网格,通过精细运动(压电管)使针与 TiO2@Si NP 之间物理接触。注意:TiO2@Si NP 的对比度变化表明物理接触。 设置适当的放大倍率和光束强度。注意:本研究中使用的电子剂量率为10 e-/Å2 / s,这是生物样品的可比条件。 施加电压并捕获图像或视频。注意:本研究中使用的电压为2 V。 6. 分析透射电镜图像 加载 TEM 图像。绘制多边形以达到目标粒子。 测量绘制多边形的面积。比较各种TEM图像之间的测量区域。注意:出于量化目的,在测量之前需要设置刻度(单位:每长度像素)。ImageJ(见 材料表)用于处理本研究中的图像。

Representative Results

图 3 显示了在 5 nm 和 10 nm TiO 2 涂层的 Si/SiO2颗粒上锂化的一系列 TEM 图像。在5 nm镀膜的情况下,整个区域发生显著膨胀,并且在巨大膨胀过程中涂层没有破裂。在10 nm涂层的情况下,即使锂化时间较长,也发生了相对较小的膨胀,并且在2 min后涂层破裂。从膨胀量和涂层破损量来看,5 nm涂层有望比10 nm涂层显示出更好的容量和耐用性。 颗粒膨胀量可以通过图像处理获得,如图 4所示。5 nm 涂层外壳显示大约 2 倍的面膨胀,而 10 nm 涂层外壳仅显示 1.2 倍的面扩展。5 nm 涂层外壳的膨胀速度比 10 nm 涂层外壳快六倍。 图 1:原位 TEM 支架组件。 (A) 空的原位 TEM 偏置支架。 (B) 将滴铸半切TEM网格与钨棒组装到支架的右侧。(C)将探头用钨针组装到支架的左侧。请点击此处查看此图的大图。 图 2:将钨针移向 TEM 中的 TiO2 涂层硅纳米颗粒。 (A) 将钨针定位到共心高度并将钨针靠近 TEM 网格。(B)针和纳米颗粒之间的物理接触通过对比度变化表示。请点击此处查看此图的大图。 图 3:关于锂化的 TEM 图像系列 。 (A)5纳米TiO2 包覆的Si纳米颗粒。(B)10纳米TiO2包覆的Si纳米颗粒。该图改编自Basak等人15。 请点击此处查看此图的大图。 图 4:跟踪锂化过程中 纳米颗粒的膨胀。 (A) 从 TEM 图像测量纳米颗粒的面积(通过绘制的多边形)。(B) 面积增加与面积增加 的关系图时间。该图改编自Basak等人15。 请点击此处查看此图的大图。

Discussion

通过原位透射电镜对涂层的Si NP进行锂化,可以简单地检查ASSB的潜在涂层。确定这些实验成功与否的重要步骤之一是LiO x的适当厚度,LiOx在这些实验中充当固体电解质。由于LiO x的离子电导率明显低于ASSB中使用的典型固体电解质,因此较厚的LiOx层会增加内阻并阻碍离子传导。另一方面,锂的任何非氧化区域都可以作为电池短路的可选手段。通过使用所谓的手套袋(如步骤3和4中所述)小心地将组装好的支架从手套箱运输到TEM,可以确保LiOx的适当厚度。

即使在这种低放大倍率下,如果没有硅芯数据(噪声)的数据,即使在这种低放大倍率下,也可以更深入地研究锂化过程中的涂层行为。在锂化之前,涂层和Si NPs很容易通过对比来区分。然而,在锂化过程中,对比度差异减小,因此很难独立研究涂层现象。STEM成像可以增强对比度,STEM图像的强度可用于体积测量。此外,机器学习或深度学习技术可以增强特征识别并提取更多信息以了解 原位 实验中的机制17

目前通过原位透射电镜对涂层Si NPs进行(脱)锂化的过程仅限于快速筛选以找到潜在的涂层材料。入围的候选涂层必须在实际的ASSB中进行测试。通过聚焦离子束在微机电系统(MEMS)上制备的微电池原偏置研究可以提供有关界面离子传输机理的进一步信息611

这种涂层筛选技术可以通过用钠代替锂来适应基于钠离子的ASSB。

Divulgations

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

这项工作是在Marie Sklodowska-Curie行动的“电镜”(批准号892916)框架内进行的。 J.P.,O.C.,H.T.和H.K.承认BMBF的iNEW FKZ 03F0589A项目。CG感谢伦敦皇家学会为URF提供的资助(拨款号UF160573)。

Materials

3 mm TEM grids with lacey film Ted Pella
Acetone Sigma Aldrich
Ar gas Linde
Conductive glue Chemtronics CW2400
Electro-polishing machine Simplex Scientific LLC ElectroPointer Including counter electrode (a small loop made by Platinum)
Ethanol Sigma Aldrich
Glove bag
Glove box
Image Processing program ImageJ
In-situ biasing TEM holder Nanofactory Nanofactory STM-TEM holder Including piezo control equipment
NaOH Sigma Aldrich
Nipper
Power supply Keithley
TiO2 coated Si/SiO2 particles In house made, TiO2 coated on commerical Si nanoparticles by atomic layer deposition method
Transmission electron microscope (TEM) ThermoFisher Scientific Titan G2
Tungsten (W) wire (diameter: 0.25 mm) any available brand

References

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Citer Cet Article
Basak, S., Park, J., Jo, J., Camara, O., Tavabi, A. H., Tempel, H., Kungl, H., George, C., Dunin-Borkowski, R. E., Mayer, J., Eichel, R. Screening of Coatings for an All-Solid-State Battery Using In Situ Transmission Electron Microscopy. J. Vis. Exp. (191), e64316, doi:10.3791/64316 (2023).

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