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Microscopie à force atomique Nanoindentation basée sur le porte-à-faux: mesures des propriétés mécaniques à l’échelle nanométrique dans l’air et les fluides
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Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mechanical Property Measurements at the Nanoscale in Air and Fluid
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Microscopie à force atomique Nanoindentation basée sur le porte-à-faux: mesures des propriétés mécaniques à l’échelle nanométrique dans l’air et les fluides

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•

08:58 min

•

December 02, 2022

DOI:

10.3791/64497-v

DOI:
10.3791/64497-v

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08:58 min
December 02, 2022

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1Micron School of Materials Science & Engineering,Boise State University, 2Department of Mechanical & Biomedical Engineering,Boise State University, 3Department of Physics,Boise State University, 4Energy and Environmental Science and Technology,Idaho National Laboratory, 5Science and Technology,Idaho National Laboratory, 6Harold Hamm School of Geology & Geological Engineering,University of North Dakota, 7Biomolecular Sciences Graduate Program,Boise State University, 8Center for Advanced Energy Studies

Summary

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La quantification de la zone de contact et de la force appliquée par la pointe d’une sonde de microscope à force atomique (AFM) à une surface d’échantillon permet de déterminer les propriétés mécaniques à l’échelle nanométrique. Les meilleures pratiques pour mettre en œuvre la nanoindentation à base de porte-à-faux AFM dans l’air ou le fluide sur des échantillons mous et durs pour mesurer le module d’élasticité ou d’autres propriétés nanomécaniques sont discutées.

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Atomic Force MicroscopyAFMCantilever-based NanoindentationNanoscaleMechanical PropertiesModulusAirFluidTopographical ImagingQuantitative MeasurementsCalibrationProbeForceDisplacementDeflection Sensitivity

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Enrriques, A. E., Howard, S., Timsina, R., Khadka, N. K., Hoover, A. N., Ray, A. E., Ding, L., Onwumelu, C., Nordeng, S., Mainali, L., Uzer, G., Davis, P. H. Atomic Force Microscopy Cantilever-Based Nanoindentation: Mechanical Property Measurements at the Nanoscale in Air and Fluid. J. Vis. Exp. (190), e64497, doi:10.3791/64497 (2022).

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