Journal
/
Quimica
/
إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS
JoVE Revista
Quimica
This content is Free Access.
JoVE Revista Quimica
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

إعداد الجسيمات النانوية لتحليل TOF-SIMS و XPS

6,909 Views

•

06:24 min

•

September 13, 2020

DOI:

10.3791/61758-v

DOI:
10.3791/61758-v

•

06:24 min
September 13, 2020

•

44 Views
, , , , , , ,
1Division of Surface Analysis and Interfacial Chemistry,Federal Institute for Material Research and Testing (BAM), 2Department of Chemical and Product Safety,German Federal Institute for Risk Assessment (BfR)

Summary

Automatically generated

يتم تقديم عدد من الإجراءات المختلفة لإعداد الجسيمات النانوية لتحليل السطح (صب قطرة ، طلاء الدوران ، ترسب من المساحيق ، والتبريد). نناقش التحديات والفرص والتطبيقات الممكنة لكل طريقة ، خاصة فيما يتعلق بالتغيرات في خصائص السطح الناجمة عن أساليب الإعداد المختلفة.

Explore More Videos

NanoparticlesSurface AnalysisToF-SIMSXPSSample PreparationSuspensionDrop Dry MethodSpin CoatingPowder DepositionUV Ozone CleanerVacuumSilicon WaferO-ringMicroscopySEM

Read Article

Cite this Article

Bennet, F., Müller, A., Radnik, J., Hachenberger, Y., Jungnickel, H., Laux, P., Luch, A., Tentschert, J. Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis. J. Vis. Exp. (163), e61758, doi:10.3791/61758 (2020).

Download .ris file

Copy

Share Video

.

Copy