Describimos la preparación de cintas de secciones seriadas y su recolección en soporte de transferencia grande para su uso como muestras de tomografía de matriz, junto con procedimientos de imágenes automatizados en un microscopio electrónico de barrido. El protocolo permite la detección, la recuperación y la obtención de imágenes dirigidas de eventos locales y raros, y la adquisición de grandes volúmenes de datos.
La microscopía electrónica se aplica en biología y medicina para obtener imágenes de detalles celulares y estructurales a resolución nanométrica. Históricamente, la microscopía electrónica de transmisión (TEM) proporcionó información sobre la ultraestructura celular, pero en la última década, el desarrollo de los microscopios electrónicos de barrido (SEM) modernos ha cambiado la forma de mirar dentro de las células. A pesar de que la resolución de TEM es superior cuando se necesitan detalles estructurales a nivel de proteína, la resolución SEM es suficiente para la mayoría de las preguntas relacionadas con la biología celular a nivel de orgánulos. El avance en la tecnología permitió soluciones automáticas de adquisición de volumen, como la imagen de cara de bloque serie (SBF-SEM) y el haz de iones enfocado SEM (FIB-SEM). Sin embargo, hasta el día de hoy, estos métodos siguen siendo ineficientes cuando la identificación y navegación a áreas de interés son cruciales. Sin los medios para la localización precisa de las áreas objetivo antes de la obtención de imágenes, los operadores necesitan adquirir muchos más datos de los que necesitan (en SBF-SEM) o, lo que es peor, preparar muchas cuadrículas e imaginarlas todas (en TEM). Proponemos la estrategia de “cribado lateral” mediante Tomografía Array en SEM, que facilita la localización de áreas de interés, seguida de imágenes automatizadas de la fracción relevante del volumen total de la muestra. Las muestras de tomografía de matriz se conservan durante la obtención de imágenes y se pueden organizar en bibliotecas de secciones listas para imágenes repetidas. Se muestran varios ejemplos en los que el cribado lateral nos permite analizar detalles estructurales a los que es increíblemente difícil acceder con cualquier otro método.
A pesar de la importancia de las técnicas relacionadas con los EM, el esfuerzo requerido para dominarlas mantiene todo el campo restringido a un pequeño número de especialistas. Una dificultad significativa es la identificación y recuperación de una Región de Interés (ROI) en las muestras conservadas para EM. La apariencia de la misma muestra difiere considerablemente cuando se analiza por microscopía óptica y después del procesamiento para la observación EM. Los cambios para las muestras preparadas químicamente incluyen la contracción de la muestra anisotrópica después de los pasos de deshidratación (~ 10% en cada dimensión) y la pérdida de fluorescencia cuando se usa osmio en el protocolo de fijación y tinción(Figura 1A). Para la seccionamiento ultrafino, las muestras se incrustan en resinas epoxi o acrílicas utilizando diferentes estrategias(Figura 1B). Para obtener resultados exitosos de esta preparación, toda la muestra debe fraccionarse en piezas que no excedan de 1 mm x 1 mm. Para cumplir con los requisitos estándar de observación de las condiciones de observación de la Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM), esta pequeña porción de la muestra se secciona aún más a rodajas de 50-150 nm de espesor. Las imágenes en escala de grises resultantes muestran la organización del tejido y la estructura del orgánulo de una fracción diminuta de toda la muestra con mayor detalle que cualquier otra técnica de microscopía(Figura 1C). Un conjunto de datos TEM típico proporciona información 2D, teóricamente extrapolada para comprender los procesos que ocurren naturalmente en un espacio 3D en células y tejidos. La Figura 1D presenta el desafío de la adquisición de volúmenes ultraestructurales: si se secciona un cubo de lado de 1.000 μm a 50 nm de espesor, se requerirán 20.000 secciones para cubrir todo el volumen; para un cubo lateral de 500 μm, será de 10.000 secciones. Para cubrir un volumen de 50 μm x 50 μm x 50 μm, podrían ser necesarias 1.000 secciones “solamente”. Obtener este volumen manualmente es prácticamente imposible y extremadamente difícil de realizar con automatización. Si, además de la profundidad de la muestra, necesitamos cubrir toda la superficie de tales cubos hipotéticos, la cobertura de 1 μm2 de superficie a una resolución razonable se convierte en un problema logístico grave(Figura 1E). Mientras que para los extraordinarios proyectos a gran escala, como los enfoques de conectómica, el gran número de secciones es crucial, para la mayoría de los proyectos EM “mundanos”, generar más secciones requeridas para la observación presenta una desventaja significativa.
Existen varios métodos para adquirir información ultraestructural 3D: microscopía electrónica de transmisión de seccionamiento en serie (TEM), tomografía TEM, tomografía de matriz (AT), microscopía electrónica de barrido de imágenes faciales en bloque serie (SBF-SEM) y microscopía electrónica de barrido de haz iónico enfocado (FIB-SEM). Las principales diferencias entre estos métodos son la estrategia de seccionamiento y si la adquisición de imágenes está acoplada a la sección de generación1. En el seccionamiento en serie TEM, las secciones secuenciales se recogen en cuadrículas de ranuras, las imágenes TEM se generan a partir de estas secuencias y se alinean2,3,4,5. En la tomografía TEM, las series de inclinación de secciones de 150-300 nm en una cuadrícula, y cuando se acoplan a la seccionamiento en serie, proporcionan una resolución muy alta, aunque relativamente pequeñavolúmenes 6,7,8. El enfoque AT utiliza secciones físicas con diversas formas manuales y semiautomáticas de recolección de secciones en soportes relativamente grandes, como cubiertas de vidrio, obleas de silicio o una cinta especial. Para la adquisición de imágenes, el soporte se analiza en SEM, con diversas estrategias de adquisición de imágenes están disponibles9,10,11,12,13,14,15. Para SBF-SEM, la seccionamiento físico se logra utilizando un mini-microtomo con un cuchillo de diamante engastado directamente dentro de la cámara SEM, con la imagen SEM generada a partir de la superficie del bloque de resina16,17,18,19. Para FIB-SEM, la fuente iónica elimina las capas delgadas de la muestra, seguida de imágenes automáticas de la superficie expuesta por el SEM20,21. La tomografía TEM y el AT generan secciones físicas, que se pueden volver a visualizar si es necesario, mientras que FSBF-SEM y FIB-SEM eliminan la sección después de la imagen. Una combinación reciente de secciones físicas fotografiadas por un SEM multihaz proporciona una combinación de métodos que resuelve el problema del “cuello de botella” de la velocidad de adquisición de imágenes22. Cada una de estas técnicas ha revolucionado la forma en que se pueden obtener y analizar los datos em, y cada enfoque tiene sus impactos prácticos relacionados con una pregunta de investigación determinada.
Dada la naturaleza de la preparación y la escala de las dimensiones ultraestructurales, no es sencillo predecir dónde se encuentra una estructura objetivo específica en el bloque de muestra (Figura 1D,E). Una solución para la localización del ROI es grabar las imágenes de todo el bloque a la resolución deseada desde el principio. Las estructuras de interés pueden estar en el volumen de datos adquirido cuando se está lejos del microscopio. El tiempo de adquisición y el manejo de datos asociados con esta estrategia son problemáticos. Es deseable reducir la cantidad de datos registrados, especialmente si los ROI son mucho más pequeños que el bloque tisular, es decir, si los objetos de interés son tipos específicos de células (no órganos completos). Diferentes técnicas correlativas de luz y microscopía electrónica (CLEM) pueden tener éxito cuando la fluorescencia se conserva y localiza antes o después de la preparación dentro de la misma muestra23,24 ,25,26,27,28,29. Sin embargo, muchas estructuras celulares son reconocibles incluso sin correlación de fluorescencia, solo basada en la ultraestructura conocida. Para estos casos, creemos que la tomografía de matriz de cribado lateral proporciona una compensación de equilibrio entre el esfuerzo invertido en la localización del ROI y la calidad de la información ultraestructural. Usando esta estrategia, un subconjunto de secciones en la oblea se examinan dentro de intervalos regulares, que se pueden establecer en función del tamaño y la naturaleza del ROI. Una vez que se encuentran los ROI, la adquisición de datos se configura en una serie continua de secciones que comienzan antes y terminan después de la sección de anclaje, recopilando la información relevante de manera específica.
Presentamos protocolos para AT que simplifican y aceleran la adquisición de regiones o eventos de interés en numerosas secciones y producen volúmenes de imágenes mejor alineados. El cribado lateral y la adquisición multipaso producen datos con muy alta resolución en regiones específicas con precisión. El procedimiento que describimos aborda varios desafíos de la adquisición de datos 3D EM, ya que prevé: compatibilidad con una amplia gama de especímenes sin cambiar fundamentalmente el flujo de trabajo de preparación de muestras; localización específica para seccionamiento y adquisiciones de SEM; reducción del tiempo y el esfuerzo durante la configuración; imágenes de regiones en múltiples secciones con mejor alineación de los volúmenes resultantes; y un procedimiento suave de costura y alineación para compilar diferentes imágenes en una imagen de mosaico cosida. Elegimos demostrar la fortaleza de nuestro método con varias muestras de proyectos publicados y en curso. Creemos que este enfoque puede facilitar significativamente la generación y adquisición de datos EM específicos, incluso para investigadores con experiencia limitada en EM.
La microscopía electrónica da una idea de la ultraestructura de las células y los organismos, para lo cual a menudo es deseable obtener imágenes de estructuras de interés en su contexto de 3 dimensiones. A pesar de las numerosas tácticas de EM para el análisis ultraestructural, todavía no existe una solución “estándar de oro”. La razón principal es la gran variedad de muestras, muchas preguntas biológicas, que con frecuencia requieren un enfoque personalizado. El flujo de trabajo de AT propuesto está diseñado para minimizar el tiempo necesario para el procesamiento de muestras, la adquisición de datos, la evaluación y el almacenamiento. Además, el cuchillo modificado proporciona una herramienta útil para simplificar la adquisición de matrices. El diseño compacto de las secciones en las obleas es conveniente, tanto para la observación como para el almacenamiento posterior de las muestras. Esta disposición permite el “cribado lateral” de muestras moviéndose horizontalmente de cinta a cinta y escaneando solo una sección en cada una, lo que reduce significativamente el tiempo requerido para localizar un ROI. Los escenarios de adquisición de datos propuestos facilitan la focalización de áreas pequeñas y distribuidas aleatoriamente. Una vez encontradas, AT/SEM restringe las imágenes de alta resolución precisamente al volumen de interés, ya sea que se realicen manualmente o con la ayuda de la función automática. AT para volúmenes limitados se puede completar manualmente, con el operador navegando a través de la muestra y definiendo las regiones de imagen una por una. El módulo automatizado del software proporciona una estrategia flexible de adquisición de imágenes para la obtención de imágenes de áreas pequeñas en secciones grandes. La automatización en este software permite grabar grandes imágenes de alta resolución en cientos de secciones, logrando volúmenes similares a los de SBFI. La grabación de imágenes generales de todas las secciones simplifica la localización del ROI y reduce el tiempo que se pasa en el microscopio. Dado que las secciones no se dañan durante la grabación de resúmenes y vistas previas de mayor resolución, AT / SEM permite reutilizar la muestra para recopilar más datos de otros ROI o a una resolución más alta.
El tiempo de adquisición de imágenes es uno de los aspectos más importantes (y más caros) de 3D EM y, por lo tanto, debe considerarse en el diseño del experimento. Si bien no es sorprendente que la obtención de imágenes de áreas grandes tome más tiempo que la obtención de imágenes de áreas pequeñas, es fácil subestimar el impacto: dependiendo de los parámetros de imagen seleccionados, el tiempo de adquisición en cada sección puede variar de segundos a horas. Los parámetros críticos de imagen incluyen el tamaño del campo de visión, la resolución y el tiempo de permanencia. Suponiendo una resolución objetivo de 10 nm por píxel y un tiempo de permanencia de 1 μs, la obtención de imágenes de un campo de 20 μm x 20 μm, 100 μm x100 μm o 500 μm x500 μm tarda 4 segundos, 100 segundos o 2.500 s en grabarse. Podemos multiplicar estos tiempos de imagen por sección por el número de secciones para estimar el tiempo requerido para el trabajo completo de imágenes. Los tiempos largos de obtención de imágenes por sección pueden ser aceptables si el número de secciones es pequeño o si el tiempo de la herramienta del microscopio no es motivo de preocupación.
Sin embargo, es necesario limitar el tiempo de grabación a un trabajo nocturno o un trabajo de fin de semana en la mayoría de los casos. Un aspecto igualmente crítico de 3D EM que debe considerarse es la cantidad y estructura de los datos de imagen resultantes. El registro de los campos de imagen mencionados anteriormente en 100 secciones genera 400 mb, 10 gb o 250 gb de datos de imagen, respectivamente; las imágenes de 500 μm x 500 μm plantean el problema adicional de ser mayores de 2 gb cada una. Muchos de los programas de software utilizados para la evaluación de datos no pueden abrir imágenes de este tamaño.
Para reducir el tiempo de obtención de imágenes, es importante elegir el tiempo de permanencia de los píxeles para cumplir con los requisitos de relación señal-ruido para la evaluación de datos posterior (por ejemplo, reconstrucción, rastreo) y limitar las grabaciones a ROI definidos. La extensión AT del software facilita la adquisición de imágenes en áreas pequeñas en secciones en serie. El software admite flujos de trabajo manuales y automáticos y muchas variantes semiautomáticas: las áreas de imagen se pueden colocar y enfocar manualmente en cada sección, o el usuario puede usar el buscador automático de secciones y las funciones de alineación de posición. Dependiendo del nivel de automatización elegido y respaldado por el tipo de muestra o los objetivos de imagen, el tiempo requerido para configurar la adquisición de imágenes en cientos de secciones puede tomar un día de trabajo completo (hecho manualmente) o solo unos minutos. En principio, la tomografía de matriz hace que sea más difícil que otros métodos 3D EM adquirir pequeños ROI; la colocación imprecisa de la región en secciones consecutivas debe compensarse mediante la adquisición de áreas más grandes. Por ejemplo, si el ROI es de 20 μm x 20 μm de tamaño y la variabilidad de posición de sección a sección de los campos de imagen es de 10 μm, uno necesita adquirir imágenes de 40 μm x 40 μm para asegurarse de que el ROI se capture completamente en cada imagen, en cada sección. La variabilidad de la posición de la imagen en el mundo real varía de 100 μm a <10 μm dependiendo de la disponibilidad o calidad de las funciones del software para la alineación de la posición o la paciencia del usuario. Con este software, se pueden lograr 10 μm sin demasiada intervención manual en la mayoría de las muestras.
Como cualquier técnica, el AT tiene varios puntos débiles que pueden influir en la adquisición exitosa de datos, y muchos son similares a otros métodos basados en seccionamiento. La falta de distribución homogénea de resina vacía versus tejido puede resultar en matrices curvas o rotas. En casos extremos, las secciones pueden separarse del soporte (Figura 6A). La compresión o estiramiento variable durante el proceso de corte puede crear pliegues que pueden interrumpir la muestra en regiones variables en secciones posteriores(Figura 6B). Las marcas de cuchillo pueden aparecer en la superficie de las secciones recolectadas usando un cuchillo dañado (Figura 6C). Las diferencias en las condiciones de seccionamiento pueden inducir diferencias ocasionales de compresión y grosor de la sección. Las partículas de polvo o suciedad pueden aterrizar en una sección y oscurecer parcialmente la zona de interés(Figura 6D). La adquisición de imágenes puede fallar debido a funciones imperfectas de contraste automático, enfoque automático y estigmatizador automático. El posicionamiento de las áreas de imagen creadas automáticamente puede ser variable y puede no capturar el ROI en todas las secciones.
Pueden surgir varios problemas en la etapa de costura y alineación. La costura automática de las adquisiciones de azulejos de mosaico puede fallar, por ejemplo, debido al gran espacio vacío dentro de la muestra. Debido a un cambio drástico en la forma en 3D, las pilas de imágenes pueden ser difíciles de registrar. Los programas especialmente desarrollados (por ejemplo, IMOD, Fiji, TrackEM2, MIB o MAPS-AT) pueden facilitar la alineación semiautomática32,38,39,40. Las secciones más desafiantes se pueden alinear manualmente utilizando el software de edición de fotos. Desafortunadamente, algunos conjuntos de datos pueden ser imposibles de alinear correctamente.
Las muestras grandes son un desafío para las secciones serie TEM que se ajustan a las rejillas; por otro lado, muchos proyectos no justifican la adquisición automática prolongada utilizando FIB/SEM o SBF-SEM. El AT es una alternativa sencilla a un tem de sección serie tediosa donde la recolección y manipulación de secciones en serie en una oblea son más sencillas que con las rejillas de ranura. Se desarrollaron varias estrategias para facilitar la recopilación de las matrices, y compartimos nuestro método para expandir el conjunto de herramientas existente. En los casos en que la identificación del ROI es un desafío, AT-SEM proporciona una ventaja fundamental, con el cribado eficiente de las muestras donde se requiere una resolución a escala de orgánulos en 50 a 500 secciones. Para volúmenes más grandes, las estrategias de AT de recolección automática se pueden recopilar de manera eficiente si se requieren más secciones. Las muestras de AT se pueden volver a visualizar varias veces, lo que facilita la obtención de imágenes específicas de áreas de alta resolución basadas en imágenes generales previamente adquiridas. Creemos que el análisis dirigido y la reducción del sobremuestreo por at/SEM propuestos aquí disminuyen los requisitos de mano de obra y almacenamiento de datos. En última instancia, las bibliotecas de secciones se pueden recopilar y mantener para su posterior reutilización y consulta. Para la adquisición de volumen, los enfoques FIB o SBF-SEM ofrecen una excelente solución siempre que el ROI sea fácil de identificar en la cara del bloque o si se necesitan grandes volúmenes 3D para el análisis. Sin embargo, FIB / SBF-SEM son menos eficientes cuando la imagen de pila de alta resolución debe recopilarse de un ROI definido de manera específica. Para concluir, los métodos propuestos para el cribado de muestras de AT y el uso de imágenes generales de resolución media permiten limitar la adquisición de imágenes a las partes relevantes de la matriz de secciones. La orientación precisa de las regiones de imágenes acelera el tiempo de obtención de datos y simplifica la evaluación de los datos.
En resumen, aunque el concepto de AT/SEM no es novedoso, su uso todavía no está tan extendido como sus méritos sugieren. En general, proporciona un procedimiento complementario a otros métodos EM existentes. AT/SEM es compatible con la más amplia gama de protocolos de preparación de muestras y flujos de trabajo de imágenes y se puede realizar en cualquier microscopio FIB/SEM o SBF-SEM como técnica de acompañamiento. En este artículo, nos hemos concentrado en AT para registrar datos ultraestructurales de muestras que tienen menos probabilidades de ser abordadas con éxito por otros métodos. Esperamos que el procedimiento descrito para la recopilación conveniente de secciones y las estrategias de adquisición considerablemente automatizadas ayuden en los primeros intentos para aquellos que nunca han encontrado el método y ayuden a perfeccionarlo para aquellos que ya tienen algo de experiencia.
The authors have nothing to disclose.
Queremos agradecer a los miembros de la instalación EM de la Universidad de Lausana por su apoyo durante este desarrollo de diferentes pasos del procedimiento AT. Nos gustaría agradecer a Gareth Griffiths, Marta Rodrigues, Urska Repnik, Christel Genoud, Helmut Gnaegi, Einat Zelinger, Paola Moreno-Roman, Lucy O’Brien y Lindsay Lewellyn por las discusiones durante la preparación del manuscrito y la lectura crítica. Queremos reconocer a los grupos que contribuyeron con las muestras utilizadas para demostrar los diferentes escenarios: Matthias Lutolf, Michail Nikolaev, Devanjali Dutta, Till Matzat y Fanny Langlet.
Cutting | |||
AT sectioning knife | Diatome | DUATS3530 | Diatome Jumbo knife |
Diamond knife for trimming 90° | Diatome | DTB90 | Diatome trimming 20° Glass knife |
Pattex contact adhesive | Pattex | PCL3C | |
Silicon wafer | Ted Pella | 16015 | Resistance: 1-30 Ohms Type P: (Boron) (1 primary flat) Roughness: 2 nm No SiO2 top coating TTV: = <20 µm Wafer is polished on one side |
Ultramicrotome | Leica UC6 | Alternative: Leica UC7 | |
Wafer cleaving kit | EMS | 7642 | EMF, Small Sample Cleaver, CatNo. 7652 |
Image acquisition | |||
FESEM | Thermo Fischer Helios | 1072419 | Alternatives: Zeiss, Jeol, Hitachi, TESCAN |
Maps 3 for SEM with Correlative Workflow & Array Tomography | Thermo Fisher Scientific | 1135932 | Maps provides automation of SEM imaging workflows and allows importing of 3rd party data for CLEM and navigation. |
Image analysis | |||
Amira x.y | Thermo Fisher Scientific | 1131599 | Amira is a 3D data visualization and analysis software with several practical functions for Array Tomography data reconstruction. |
Image processing | Open source | Fiji (http://fiji.sc/#download) | IMOD, MIB (See text for refferences) |