Il protocollo mira a studiare l’interazione tra goccioline e substrati super-idropobici nell’aria. Ciò include la calibrazione del sistema di misurazione e la misurazione della forza di interazione a substrati super-idrofobici con diverse frazioni di griglia.
L’obiettivo di questo documento è quello di studiare la forza di interazione tra goccioline e substrati super-idrofobici nell’aria. Viene progettato un sistema di misurazione basato su un metodo a leva ottica. Uno sbalzo millimetrico viene utilizzato come componente sensibile alla forza nel sistema di misurazione. In primo luogo, la sensibilità alla forza della leva ottica viene calibrata utilizzando la forza elettrostatica, che è il passo critico nella misurazione della forza di interazione. In secondo luogo, tre substrati super-idrofobici con diverse frazioni di griglia vengono preparati con nanoparticelle e griglie di rame. Infine, le forze di interazione tra goccioline e substrati super-idropobici con diverse frazioni di rete vengono misurate dal sistema. Questo metodo può essere utilizzato per misurare la forza sulla scala del sub-micronewton con una risoluzione sulla scala del nanonewton. Lo studio approfondito del processo di contatto delle goccioline e delle strutture super-idropobiche può contribuire a migliorare l’efficienza produttiva nel rivestimento, nella pellicola e nella stampa. Il sistema di misurazione della forza progettato in questo documento può essere utilizzato anche in altri campi della misurazione della microforza.
Il contatto tra una goccia e una superficie super-idrofobica è molto comune nella vita quotidiana e nella produzione industriale: goccioline d’acqua che scivolano dalla superficie della foglia di loto1,2, e un pilota d’acqua che viaggia rapidamente sull’acqua3 ,4,5,6. Un rivestimento super-idrofobico sulla superficie esterna di una nave può aiutare a ridurre il grado di corrosione della nave e ridurre la resistenza della navigazione7,8,9,10. C’è un grande valore per la produzione industriale e la ricerca bionica nello studio del processo di contatto tra una goccia e una superficie super-idrofobica.
Per osservare il processo di diffusione delle goccioline su una superficie solida, Biance ha utilizzato una telecamera ad alta velocità per fotografare il processo di contatto e ha scoperto che la durata del regime inerziale è fissata principalmente dalla dimensione di goccia11. Eddi ha fotografato il processo di contatto tra la goccia e la piastra trasparente dal basso e lateralmente utilizzando una fotocamera ad alta velocità, che ha rivelato in modo completo la variazione del raggio di contatto della goccia viscosa con il tempo12. Paulsen ha combinato un metodo elettrico con l’osservazione della telecamera ad alta velocità, riducendo così il tempo di risposta a 10 ns13,14.
La microscopia a forza atomica (AFM) è stata utilizzata anche per misurare la forza di interazione tra le superfici solide/goccia e goccia. Vakarelski ha utilizzato un aderitoa AFM per misurare le forze di interazione tra due piccole bolle (circa 80-140 m) in soluzione accolgocciata durante le collisioni controllate sulla scala dei micrometri ai nanometri15. Shi ha usato una combinazione di aFM e microscopia a contrasto di interferenza di riflessione (RICM) per misurare simultaneamente la forza di interazione e l’evoluzione spatiotemporale della pellicola d’acqua sottile tra una bolla d’aria e le superfici di mica di diversa idrofobicità 16,17.
Tuttavia, poiché i sbalzi commerciali utilizzati nell’AFM sono troppo piccoli, la macchia laser irradiata sul sbalzo sarebbe sommersa da goccioline o bolle. L’AFM ha difficoltà a misurare la forza di interazione tra goccioline e goccioline/substrati nell’aria.
In questo documento, un sistema di misurazione basato su un metodo a leva ottica è progettato per misurare la forza di interazione tra goccioline e substrati super-idrofobici. La sensibilità alla forza della leva ottica (SOL) è calibrata dalla forza elettrostatica18,quindi le forze di interazione tra goccioline e diversi substrati super-idrofobici vengono misurate dal sistema di misurazione.
Il diagramma schematico del sistema di misurazione è illustrato nella Figura 1. Il rivelatore laser e sensibile alla posizione (PSD) costituisce il sistema a leva ottica. Uno sbalzo di silicio millimetrico viene utilizzato come componente sensibile nel sistema. Il substrato è fissato sullo stadio z nanopositioning, che può muoversi in direzione verticale. Quando il substrato si avvicina alla goccia, la forza di interazione fa piegare lo sbalzo. Così, la posizione del punto laser su PSD cambierà, e la tensione di uscita di PSD cambierà. La tensione di uscita di PSD Vp è proporzionale alla forza di interazione Fi, come mostrato in Eq. (1).
①
Per acquisire la forza di interazione, SOL deve essere calibrato prima. La forza elettrostatica viene utilizzata come forza standard nella calibrazione di SOL. Come mostrato nella Figura 2, il cantilever e l’elettrodo costituiscono un condensatore a piastra parallela, che potrebbe generare forza elettrostatica in direzione verticale. La forza elettrostatica Fes è determinata dalla tensione dell’alimentatore DC Vs, come mostrato in Eq. (2)19,20,21.
②
dove C è la capacità del condensatore a piastra parallela, z è lo spostamento dell’estremità libera a sbalzo e dC/dz è chiamato gradiente di capacità. La capacità potrebbe essere misurata dal ponte di capacità. La relazione matematica tra C e z può essere adattata da un polinomio quadratico, come mostrato in Eq. (3).
③
dove Q, P e CT sono i coefficienti del termine quadratico, il termine primario e il termine costante rispettivamente. Pertanto, la forza elettrostatica Fes può essere espressa come Eq. (4).
④
Poiché l’area di sovrapposizione di due piastre del condensatore è molto piccola, la forza elastica che ha agito sul cantilever può essere espressa come Eq (5), secondo la legge di Hooke:
⑤
dove k è la rigidità del cantilever.
Quando la forza elastica e la forza elettrostatica applicata sul cantilever sono uguali (cioè., Fi – Fes), il cantilever è in equilibrio. Eq. (6) può essere derivato da Eqs. (1), (2) e (5):
⑥
Per ridurre l’incertezza dei risultati della calibrazione, viene utilizzato un metodo di differenza per calcolare SOL. I risultati di due esperimenti sono presi come Vs1, Vp1 e Vs2, Vp2e vengono sostituiti in Eq. (6):
(7) Per quanto mi fa parte,
Trasformando le equazioni e sottraendo l’equazione inferiore dall’equazione superiore in Eq. (7), vengono eliminati i parametri Q e k. Quindi si ottiene la formula di calibrazione di SOL, come mostrato in Eq. (8):
(8) Per quanto mi li ristol
Eseguendo una serie di esperimenti, la curva viene disegnata con P(1/Vp1-1/Vp2) come coordinata e 2(1/Vs12-1/Vs22) come abscissa. La pendenza della curva è SOL.
Dopo aver ottenuto SOL, l’elettrodo sarà sostituito da diversi substrati super-idrofobici. Le forze di interazione tra goccioline e substrati super-idrofobici saranno misurate dal sistema illustrato nella Figura 1.
In questo protocollo, viene assemblato e calibrato un sistema di misura basato sul metodo a leva ottica, progettato per misurare la forza di interazione tra le goccioline e i substrati super-idrofobici. Tra tutti i passaggi, è fondamentale calibrare SOL usando la forza elettrostatica. I risultati dell’esperimento di calibrazione verificano Eq. (8): P(1/Vp1-1/Vp2) è proporzionale a 2(1/Vs12-1/Vs22) e consento…
The authors have nothing to disclose.
Gli autori ringraziano la Tianjin Natural Science Foundation (n. 18JCQNJC04800), Il Tribology Science Fund of State Key Laboratory of Tribology (N. SKLTKF17B18) e la National Natural Science Foundation of China (Grant No. 51805367) per il loro sostegno.
Camera | Shenzhen Andonstar Tech Co., Ltd | digital microscope A1 | Frame rate: 30 frames/sec; Focal distance: 5 mm – 30 mm |
Capacitive bridge | Andeen-Hagerling | AH2550A | The capacitive bridge is used to measure the capacitance between the cantilever and the plate electrode. |
Data acquisition device | National Instruments | USB-4431 | The data acquisition device is used to read the output voltage data. |
DC power supply | Keithley | 2410 | Voltage range: ±5 μV; Accuracy: 0.012% |
Grid | Electron Microscopy China | AGH100, AGH150, AGH300 | The grid fractions of AGH100, AGH150 and AGH300 are 46.18%, 51.39% and 58.79% respectively |
Laser | Shenzhen Infrared Laser Technology Co., Ltd. | HW650AD100-10BD | Laser wavelength: 650 nm |
Nanoparticle | Rust-Oleum | 274232 | NeverWet Multi-Surface Liquid Repelling Treatment is a revolutionary super hydrophobic coating. |
Nanopositioning z-stage | Physik Instrumente | P622.ZCD | Travel ranges 50 µm to 250 µm (350 µm open loop); Resolution to 0.1 nm; Linearity error only 0.02% |
Position sensitive detector | Hamamatsu Photonics K.K. | S1880 | The two-dimensional PSD is used to translate optical signals into electrical signals. |