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Ingenieurwesen
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微谐振器中孤子晶体的快速重复率波动测量
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Ingenieurwesen
Rapid Repetition Rate Fluctuation Measurement of Soliton Crystals in a Microresonator
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Click here for the English version.
微谐振器中孤子晶体的快速重复率波动测量
DOI:
10.3791/60689-v
•
07:42 min
•
December 15, 2021
•
Peng Xie*
1,2
,
Xinyu Wang*
1,2
,
Weiqiang Wang
2
,
Wenfu Zhang
2
,
Zhizhou Lu
2
,
Yang Wang
2
,
Wei Zhao
2
1
State Key Laboratory of Transient Optics and Photonics, Xi’an Institute of Optics and Precision Mechanics (XIOPM)
,
Chinese Academy of Sciences (CAS)
,
2
University of Chinese Academy of Sciences
Kapitel
00:04
Introduction
01:09
Optical Coupling
02:19
Device Packaging
02:56
SCs (Soliton Crystals) Generation
04:52
Repetition Rate Fluctuation Measurement
06:13
Results: Perfect SC and SC with a Single Vacancy
07:03
Conclusion
Summary
Automatische Übersetzung
English (Original)
العربية (Arabic)
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Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
português (Portuguese)
русский (Russian)
español (Spanish)
Türkçe (Turkish)
Automatische Übersetzung
在这里,我们提出了一种使用热调谐方法在蝴蝶封装的微环谐振器中产生孤子晶体的协议。此外,使用延迟自外差法测量具有单个空位的孤子晶体的重复速率波动。
Tags
Soliton Crystals
Microresonator
Repetition Rate Fluctuation
Packaging
Chip-scale
Dissipative Kerr Soliton
UV Adhesive
Thermal Electric Cooler
Erbium Doped Fiber Amplifier
Polarization Control
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