Journal
/
/
جميع الإلكترونية حل النانوسيكند المسح نفق مجهرية: تسهيل التحقيق في ديناميات تهمة يستعمل واحدة
JoVE Journal
Ingenieurwesen
Zum Anzeigen dieser Inhalte ist ein JoVE-Abonnement erforderlich.  Melden Sie sich an oder starten Sie Ihre kostenlose Testversion.
JoVE Journal Ingenieurwesen
All-electronic Nanosecond-resolved Scanning Tunneling Microscopy: Facilitating the Investigation of Single Dopant Charge Dynamics

جميع الإلكترونية حل النانوسيكند المسح نفق مجهرية: تسهيل التحقيق في ديناميات تهمة يستعمل واحدة

DOI:

11:33 min

January 19, 2018

, , , , , , ,

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 00:52Initial Setup of Microscope and Experiments
  • 02:05Preparation of the H-Si(100)-(2×1) Reconstruction
  • 04:20Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction
  • 06:32Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy
  • 07:55Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics
  • 08:47Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics
  • 09:27Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics
  • 10:43Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

علينا أن نظهر أسلوب جميع إلكترونية لمراقبة ديناميات تهمة النانوسيكند وتصميما من ذرات يستعمل السيليكون مع مجهر مسح نفقي.

Verwandte Videos

Read Article