Journal
/
Ingenieurwesen
/
Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy
JoVE Journal
Ingenieurwesen
This content is Free Access.
JoVE Journal Ingenieurwesen
Studying Dynamic Processes of Nano-sized Objects in Liquid using Scanning Transmission Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

Het bestuderen van dynamische processen van Nano-sized Objecten in Vloeistof met behulp van Scanning Transmission Electron Microscopy

DOI:
10.3791/54943-v

•

10:29 min

•

February 05, 2017

•

,
1INM-Leibniz Institute for New Materials, 2Department of Physics,University of Saarland

Kapitel

  • 00:05Titel
  • 00:51Silicon Nitride (SiN) Microchip and Sample Preparation
  • 03:18Preparation of the Liquid Flow TEM Holder and Sample Loading
  • 06:32STEM of Specimens in Liquid
  • 08:21Results: Liquid-phase STEM of Gold Nanoparticles
  • 09:20Conclusion

Summary

Automatische Übersetzung

Automatische Übersetzung

Dit protocol beschrijft de werking van een vloeistofstroom monsterhouder voor het scannen van transmissie elektronenmicroscopie van AuNPs in water, zoals gebruikt voor de observatie van nanoschaal dynamische processen.

Tags

Keywords: Liquid Phase Scanning Transmission Electron MicroscopyNanomaterialsBiological SamplesMaterials ScienceNanoscale Morphological InformationSiN MicrochipsHPLC-grade AcetonePlasma CleanerLight Microscope

Article

Embed

ZUR WIEDERGABELISTE HINZUFÜGEN

Usage Statistics

Verwandte Videos

check_url/de/54943?article_type=v

Onthulling dynamische processen van de grondstoffen in vloeistoffen met behulp van vloeibare Cell Transmissie Elektronen Microscopie
check_url/de/54943?article_type=v

Scanning-probe Single-electron Capaciteit Spectroscopie
check_url/de/54943?article_type=v

Dynamische Pore schaal Reservoir voorwaarde beeldvorming van Reaction in carbonaten met synchrotron Fast Tomography
check_url/de/54943?article_type=v

In detail Analyses LEDs door een combinatie van X-ray Computed Tomography (CT) en lichtmicroscopie (LM) gecorreleerd met Scanning Electron Microscopy (SEM)
check_url/de/54943?article_type=v

Precisie Frezen van koolstof nanobuis Bossen Met behulp van Low Pressure Scanning Electron Microscopy
check_url/de/54943?article_type=v

Karakterisering van Ultra-fijnkorrelige en nanokristallijne materialen met behulp van Transmission Kikuchi Diffraction
check_url/de/54943?article_type=v

Een methode voor het verkrijgen van seriële uiterst dunne secties van micro-organismen in transmissie-elektronenmicroscopie
check_url/de/54943?article_type=v

Single-Digit Nanometer Electron-Beam Lithography met aberratie-gecorrigeerde scannen transmissie elektronenmicroscoop
check_url/de/54943?article_type=v

Ontwikkeling van een neus-alleen inademing toxiciteit testkamer waarmee vier blootstellingsconcentraties voor de Nano-sized deeltjes
check_url/de/54943?article_type=v

In Situ Transmission Electron Microscopy met biasing en fabricage van asymmetrische dwarsbalken op basis van gemixte a-VOx

Read Article