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Wirkung von Biegen auf die elektrischen Eigenschaften von flexiblen organischen Einkristall-basierte Feldeffekttransistoren
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Kapitel
- 00:05Titel
- 00:43Grow Single Crystals of TCDAP Using a Physical Vapor Transfer (PVT) System
- 01:43Device Fabrication
- 04:09Measure the Performance of the Device and Bending Experiments
- 05:32Results: Measuring Properties of Bent Organic Electronic Devices
- 06:38Conclusion
Diese Handschrift beschreibt den Biegeprozess eines organischen Einkristall-basierten Feldeffekttransistor eine betriebsfähige Vorrichtung zur elektronischen Eigenschaftsmessung aufrechtzuerhalten. Die Ergebnisse legen nahe, dass Biege verursacht Veränderungen in der molekularen Abstand im Kristall und somit in der Ladungssprungrate, die in flexible Elektronik wichtig ist.
