Journal
/
工程学
/
Et virtuelt simuleringseksperiment af mekanik: materialedeformation og svigt baseret på scanningelektronmikroskopi
JoVE 杂志
工程学
需要订阅 JoVE 才能查看此.  登录或开始免费试用。
JoVE 杂志 工程学
A Virtual Simulation Experiment of Mechanics: Material Deformation and Failure Based on Scanning Electron Microscopy

Et virtuelt simuleringseksperiment af mekanik: materialedeformation og svigt baseret på scanningelektronmikroskopi

DOI:
10.3791/64521-v

•

06:54 min

•

January 20, 2023

•

, , ,
1School of Civil Engineering,Wuhan University, 2Department of Artificial Intelligence and Automation,Wuhan University

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:44Molding the Specimen
  • 02:48Specimen Characterization, Loading, and Nanoindenter Installation
  • 03:40In‐Situ Scanning Electron Microscopy (SEM) Experiment
  • 04:56Results: Efficiency of the Web-Based Virtual Simulation Experiment
  • 06:22Conclusion

Summary

自动翻译

自动翻译

Dette arbejde præsenterer et tredimensionelt virtuelt simuleringseksperiment for materialedeformation og fejl, der giver visualiserede eksperimentelle processer. Gennem et sæt eksperimenter kan brugerne blive fortrolige med udstyret og lære operationerne i et fordybende og interaktivt læringsmiljø.

Tags

Keywords: Virtual SimulationMaterial DeformationMaterial FailureScanning Electron MicroscopyExperimental ProtocolsEquipment UseTheoretical VerificationLaboratory SkillsHigh Temperature Universal Creep Testing MachineParallel Plate Compression MoldingMetallographic Specimen InlayingPolymethyl Methacrylate (PMMA)PolishingCorrosion

Article

Embed

添加到播放列表

Usage Statistics

Related Videos

check_url/cn/64521?article_type=v

Scanning-sonde Single-elektron Capacitance spektroskopi
check_url/cn/64521?article_type=v

Eksperimentelle metoder til undersøgelse af Shape Memory Baseret Elastocaloric Køling Processer og Model Validation
check_url/cn/64521?article_type=v

Simulering af Menneske-induceret Vibrations Baseret på Karakteriseret In-field Fodgænger Behavior
check_url/cn/64521?article_type=v

I Dybde Analyser af lysdioder ved en kombination af X-ray Computed Tomography (CT) og Light Microscopy (LM) korreleret med Scanning Electron Microscopy (SEM)
check_url/cn/64521?article_type=v

Omfattende karakterisering af Extended Fejl i Semiconductor Materials af en Scanning Electron Microscope
check_url/cn/64521?article_type=v

Hand Kontrolleret Manipulation af enkelte molekyler via en Scanning Probe mikroskop med en 3D Virtual Reality-grænseflade
check_url/cn/64521?article_type=v

Studere dynamiske processer af Nano-størrelse Objekter i Liquid hjælp Scanning Transmission Electron Microscopy
check_url/cn/64521?article_type=v

Precision Milling af kulstof nanorør skove Brug Low Pressure Scanning Electron Microscopy
check_url/cn/64521?article_type=v

Udfordringer i Rheologisk Karakterisering af stærkt koncentrerede Karantæner - et casestudie til silketryk Silver Indsætter
check_url/cn/64521?article_type=v

Undersøgelse af sifon Breaker eksperiment og Simulation for en forskningsreaktoren

Read Article