Journal
/
/
Förberedelse av nanopartiklar för ToF-SIMS och XPS-analys
JoVE 杂志
化学
This content is Free Access.
JoVE 杂志 化学
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

自动翻译

Ett antal olika procedurer för att förbereda nanopartiklar för ytanalys presenteras (droppgjutning, spinnbeläggning, deponering från pulver och kryofixering). Vi diskuterar utmaningar, möjligheter och möjliga tillämpningar av varje metod, särskilt när det gäller förändringar i ytegenskaperna som orsakas av de olika beredningsmetoderna.

Related Videos

Read Article