Journal
/
/
Forberedelse av nanopartikler for ToF-SIMS og XPS-analyse
JoVE 杂志
化学
This content is Free Access.
JoVE 杂志 化学
Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis
DOI:

06:24 min

September 13, 2020

, , , , , , ,

Chapters

  • 00:05Introduction
  • 00:45Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
  • 02:24Nanoparticle Powder Deposition
  • 03:15Nanoparticle Suspension Cryofixation
  • 04:06Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
  • 05:41Conclusion

Summary

自动翻译

En rekke forskjellige prosedyrer for å forberede nanopartikler for overflateanalyse presenteres (dråpestøping, spinnbelegg, avsetning fra pulver og kryofiksering). Vi diskuterer utfordringer, muligheter og mulige anvendelser av hver metode, spesielt når det gjelder endringene i overflateegenskapene forårsaket av de ulike forberedelsesmetodene.

Related Videos

Read Article