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Mesures de corrélations électroniques à longue portée au cours d’expériences de Diffraction femtoseconde effectuées sur les nanocristaux de fullerène
JoVE 杂志
化学
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JoVE 杂志 化学
Measurements of Long-range Electronic Correlations During Femtosecond Diffraction Experiments Performed on Nanocrystals of Buckminsterfullerene
DOI:

08:44 min

August 22, 2017

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Chapters

  • 00:05Title
  • 00:52C60 Powder Sample Preparation
  • 02:53Scans at the Linac Coherent Light Source, Coherent X-ray Imaging Beamline
  • 04:12Peak Analysis
  • 06:09Results: Evidence of Forbidden Reflections in FCC Nanaocrystals of C60 Subjected to X-ray Free Electron Laser Pulses
  • 07:28Conclusion

Summary

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Les auteurs décrivent une expérience conçue pour sonder les dommages électroniques induit chez des nanocristaux de buckminsterfullerène (C60) par des impulsions femtoseconde intense, des rayons x. L’expérience trouva que, étonnamment, plutôt que d’être stochastique, les rayons x induite par électron dynamique en C60 est fortement corrélée, s’étendant sur des centaines de cellules unitaires dans les cristaux1.

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