/

/

قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون

JoVE 杂志
工程学

需要订阅 JoVE 才能查看此. 登录或开始免费试用。

JoVE 杂志工程学

Measurement of Quantum Interference in a Silicon Ring Resonator Photon Source

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون

8,205 Views

•

12:19 min

•

April 04, 2017

DOI:

10.3791/55257-v

DOI:

10.3791/55257-v

•

12:19 min

April 04, 2017

•

3 Views

Jeffrey A. Steidle¹, Michael L. Fanto^1,2, Stefan F. Preble¹, Christopher C. Tison^2,3,4, Gregory A. Howland², Zihao Wang¹, Paul M. Alsing²

¹Microsystems Engineering,Rochester Institute of Technology, ²Air Force Research Laboratory, Rome, NY, ³Department of Physics,Florida Atlantic University, ⁴Quanterion Solutions Incorporated

Summary

السيليكون رقائق الضوئية لديها القدرة على تحقيق أنظمة الكم متكاملة معقدة. المقدمة هنا هي طريقة لإعداد واختبار رقاقة السيليكون الضوئية لقياس الكم.

Explore More Videos

Quantum Interference Silicon Ring Resonator Photon Source Integrated Photonics Chip-scale Photon Pair Source Quantum Integrated Photonic Circuits Photonic Chip Pump Circuit Ring Resonator Mach-Zehnder Interferometer On-chip Heating Phase Shift Chip Polishing Fiber Preparation Fiber Stripper Fiber Cleaver Fusion Splicer Sleeve Oven

Read Article